[发明专利]一种内存测试方法、装置及内存控制器

说明书

本申请实施例提供了一种内存测试方法、装置及内存控制器。方案如下：接收来自BIST模块的第一测试数据、以及需要测试的内存的存储空间标识；将第一测试数据写入存储空间标识对应的第一存储空间；从第一存储空间中读取第一实际数据，并将读取到的第一实际数据发送至BIST模块，以使BIST模块比较第一测试数据和读取到的第一实际数据，得到第一存储空间的测试结果。应用本申请实施例提供的技术方案，在降低了内存测试成本的同时，提高了内存测试的效率，以及提高了内存测试的普及性。

技术领域

本申请涉及自动化测试领域，特别是涉及一种内存测试方法、装置及内存控制器。

背景技术

内存是计算机系统中非常重要的硬件部件，常被用于存放指令和数据。在现代计算机系统中几乎所有的应用程序都是运行在内存中的。鉴于内存在整个计算机系统中的重要性，需要对内存进行测试，从而确保内存的存取访问和数据存储等功能的正常使用。

目前，内存测试的方式可以分别两种：一种，利用软件进行内存测试；另一种，利用自动化测试设备（Automatic Test Equipment，ATE）进行内存测试。

对于上述利用软件进行内存测试的方式，由于软件运行在中央处理器（CentralProcessing Unit，CPU）上，CPU与内存间的访问路径较长，并且每一次访问的数据量也相对较少，这使得内存测试所需的时长较长，内存测试的准确性也无法得到保证。

对于上述利用ATE的内存测试的方式，由于ATE是ATE供应商根据用户的测试需求定制开发的，其成本较高，因此，利用ATE进行内存测试的方式不适用于单个用户的计算机设备的内存测试。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种内存测试方法、装置及内存控制器，以在降低内存测试成本的同时，提高内存测试的效率，以及提高内存测试的普及性。具体技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种内存测试方法，应用于内存控制器，所述内存控制器上设置了BIST（Built-in Self Test，内建自测试）模块，或所述内存控制器的上一级硬件模块上设置了BIST模块，所述方法包括：

接收来自所述BIST模块的第一测试数据、以及需要测试的内存的存储空间标识；

将所述第一测试数据写入所述存储空间标识对应的第一存储空间；

从所述第一存储空间中读取第一实际数据，并将读取到的第一实际数据发送至所述BIST模块，以使所述BIST模块比较所述第一测试数据和读取到的第一实际数据，得到所述第一存储空间的测试结果。

可选的，所述第一测试数据的数量为两个，两个第一测试数据中相同位置处的比特值相反；

所述第一测试数据和所述存储空间标识为中央处理单元（Central ProcessingUnit，CPU）写入BIST模块的。

可选的，所述内存包括N条数据总线；所述方法还包括：

接收CPU下发的至少两个第二测试数据，所述至少两个第二测试数据中同一数据总线传输的比特值有两种；

通过所述N条数据总线，向所述内存中预先设定的第二存储空间写入每个第二测试数据；

通过所述N条数据总线，从所述第二存储空间中读取每个第二测试数据对应的第二实际数据，并将读取到的第二实际数据发送至所述CPU，以使所述CPU比较每个第二测试数据和对应的第二实际数据，得到数据总线的测试结果。

可选的，所述至少两个第二测试数据包括1个所有比特值均为第一比特值的第二测试数据，和N个具有一个第二比特值的第二测试数据，所述第二比特值在N个第二测试数据中的位置不同。

可选的，所述内存包括内存库和地址总线，所述内存库包括M行存储单元；所述方法还包括：