[发明专利]一种激光雷达数据点处理方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110519314.2 申请日: 2021-05-12
公开(公告)号: CN113359103A 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 冯成会;王翔;于建辉;王高峰;孙存 申请(专利权)人: 武汉中仪物联技术股份有限公司
主分类号: G01S7/48 分类号: G01S7/48
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王治东
地址: 430074 湖北省武汉市东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光雷达 据点 处理 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种激光雷达数据点处理方法,包括:

获取回波信号,并根据所述回波信号生成待测物的二维雷达图像,所述二维雷达图像由若干轮廓成像点构成,其特征在于,还包括以下步骤:

获取待处理的所述轮廓成像点的第一参考点集和第二参考点集,所述第一参考点集和所述第二参考点集分别为位于待处理的轮廓成像点两侧的若干轮廓成像点,且第一参考点集中轮廓成像点的数量和第二参考点集中轮廓成像点的数量相等;

根据第一参考点集和第二参考点集,对待处理的轮廓成像点进行平滑处理,得到待处理的轮廓成像点的平滑后横纵坐标值。

2.根据权利要求1所述的一种激光雷达数据点处理方法,其特征在于,根据第一参考点集和第二参考点集,对待处理的轮廓成像点进行平滑处理,得到待处理的轮廓成像点的平滑后横纵坐标值,具体包括以下步骤:

获取待处理的轮廓成像点、第一参考点集和第二参考点集在二维雷达图像中的原始横纵坐标值;

根据所述原始横纵坐标值,对待处理的轮廓成像点进行平滑处理,得到待处理的轮廓成像点的平滑后横纵坐标值。

3.根据权利要求2所述的一种激光雷达数据点处理方法,其特征在于,根据所述原始横纵坐标值,对待处理的轮廓成像点进行平滑处理,得到待处理的轮廓成像点的平滑后横纵坐标值,具体包括以下步骤:

将待处理的轮廓成像点的原始横坐标值确定为平滑后横坐标值;

获取待处理的轮廓成像点、第一参考点集和第二参考点集的原始纵坐标值的纵平均值,将所述纵平均值确定为平滑后纵坐标值。

4.根据权利要求2所述的一种激光雷达数据点处理方法,其特征在于,根据所述原始横纵坐标值,对待处理的轮廓成像点进行平滑处理,得到待处理的轮廓成像点的平滑后横纵坐标值,具体包括以下步骤:

获取待处理的轮廓成像点、第一参考点集和第二参考点集的原始横坐标值的横平均值,将所述横平均值确定为平滑后横坐标值;

获取待处理的轮廓成像点、第一参考点集和第二参考点集的原始纵坐标值的纵平均值,将所述纵平均值确定为平滑后纵坐标值。

5.根据权利要求2所述的一种激光雷达数据点处理方法,其特征在于,第一参考点集中的若干轮廓成像点在平滑处理区内沿二维雷达图像的成像轨迹依次顺序设置,第二参考点集中的若干轮廓成像点在所述平滑处理区内沿二维雷达图像的成像轨迹依次顺序设置;

平滑处理区为以待处理的轮廓成像点为中心向两侧对称延展设置的二维雷达图像中的部分区域。

6.根据权利要求1所述的一种激光雷达数据点处理方法,其特征在于,获取待处理的所述轮廓成像点的第一参考点集和第二参考点集,具体包括以下步骤:

获取待处理的轮廓成像点的平滑处理区;

顺着所述成像轨迹,从在平滑处理区内未被选取的轮廓成像点中,选取一个与待处理的轮廓成像点最接近的轮廓成像点加入第一参考点集中;

当第一参考点集中轮廓成像点的数量满足预设数量时,停止选取第一参考点集;

逆着所述成像轨迹,从在平滑处理区内未被选取的轮廓成像点中,选取一个与待处理的轮廓成像点最接近的轮廓成像点加入第二参考点第二参考点集中;

当第二参考点集中轮廓成像点的数量满足所述预设数量时,停止选取第二参考点集。

7.根据权利要求1所述的一种激光雷达数据点处理方法,其特征在于,获取回波信号,并根据所述回波信号生成二维雷达图像,之后还包括以下步骤:

对轮廓成像点进行去噪处理,去除其中无效的轮廓成像点。

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