[发明专利]基于轮廓系数的snp分型有效性评估方法、装置以及电子设备在审

专利信息
申请号: 202110497652.0 申请日: 2021-05-07
公开(公告)号: CN114708915A 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 杨智;李冬;贺贤汉 申请(专利权)人: 杭州博日科技股份有限公司
主分类号: G16B40/00 分类号: G16B40/00;G06V10/762;G06K9/62
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张萌
地址: 310000 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 轮廓 系数 snp 有效性 评估 方法 装置 以及 电子设备
【权利要求书】:

1.一种基于轮廓系数的snp分型有效性评估方法,其特征在于,所述方法包括:

获取针对目标SNP位点的终点荧光强度数据;

基于所述终点荧光强度数据利用聚类算法进行聚类,得到第一聚类结果;

通过个体轮廓系数及预设轮廓系数指标阈值对所述第一聚类结果中的样本进行筛选,得到样本筛选结果;

利用所述聚类算法对所述样本筛选结果进行聚类,得到第二聚类结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取针对目标SNP位点的终点荧光强度数据的步骤,包括:

利用扩增曲线法采集每个通道的针对目标SNP位点的终点荧光强度数据。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述终点荧光强度数据利用聚类算法进行聚类,得到第一聚类结果的步骤,包括:

对所述终点荧光强度数据进行预处理,得到预处理结果;

利用聚类算法对所述预处理结果进行聚类,得到第一聚类结果。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对所述终点荧光强度数据进行预处理,得到预处理结果的步骤,包括:

对所述终点荧光强度数据进行归一化处理,得到归一化处理结果,并将所述归一化处理结果作为预处理结果。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述利用聚类算法对所述预处理结果进行聚类,得到第一聚类结果的步骤,包括:

去除所述预处理结果中的空白样本以及无扩增样本数据;

利用聚类算法基于总体轮廓系数进行聚类分析,得到第一聚类结果;其中,所述第一聚类结果中包含分类数量、结果及总体、个体轮廓系数。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过个体轮廓系数及预设轮廓系数指标阈值对所述第一聚类结果中的样本进行筛选,得到样本筛选结果的步骤,包括:

基于所述第一聚类结果判断总体轮廓系数是否满足所述预设轮廓系数指标阈值;如果所述总体轮廓系数不满足所述预设轮廓系数指标阈值,则该位点均为1类或不可分,后续进行手动划分或重新实验,如果满足,则进入下一步骤;

基于所述第一聚类结果判断个体轮廓系数是否满足所述预设轮廓系数指标阈值;如果存在所述个体轮廓系数不满足所述预设轮廓系数指标阈值的样本,则从所述第一聚类结果中去除不满足所述预设轮廓系数指标阈值的样本,得到样本筛选结果。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述聚类算法对所述样本筛选结果进行聚类,得到第二聚类结果的步骤,包括:

利用所述聚类算法对所述样本筛选结果进行聚类以及分析,得到多个聚类中心和基因型特征,并根据每个所述聚类中心以及每个所述基因型特征进行归类,得到第二聚类结果。

8.一种基于轮廓系数的snp分型有效性评估装置,其特征在于,包括:

获取模块,用于获取针对目标SNP位点的终点荧光强度数据;

第一聚类模块,用于基于所述终点荧光强度数据利用聚类算法进行聚类,得到第一聚类结果;

筛选模块,用于通过个体轮廓系数及预设轮廓系数指标阈值对所述第一聚类结果中的样本进行筛选,得到样本筛选结果;

第二聚类模块,用于利用所述聚类算法对所述样本筛选结果进行聚类,得到第二聚类结果。

9.一种电子设备,包括存储器、处理器,所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1至7任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机可运行指令,所述计算机可运行指令在被处理器调用和运行时,所述计算机可运行指令促使所述处理器运行所述权利要求1至7任一项所述的方法。

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