[发明专利]用于对LCD模组进行检测的方法、电子设备及存储介质

说明书

本申请涉及一种用于对LCD模组进行检测的方法、电子设备及存储介质。该方法包括：提供第一光波与第二光波，第一光波为表面打光光源发出的光波，第一光波为三基色光中的任意一种基色光，基色滤光片为滤光装置内的三基色滤光片中的任意一种滤光片，第二光波是由背光光源所发出，第二光波包含至少一种与第一光波不一样的基色光；根据第一光波的基色切换第一基色滤光片；通过黑白工业相机透过第一基色滤光片对LCD模组进行拍摄，得到第一LCD模组图像；根据第二光波的基色切换第二基色滤光片；通过黑白工业相机透过第二基色滤光片对LCD模组进行拍摄，得到第二LCD模组图像。本申请提供的方案，能够实现对LCD模组的缺陷检测和区分。

技术领域

本申请涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种用于对LCD模组进行检测的方法、电子设备及存储介质。

背景技术

LCD模组通常为一种多层结构，在生产制造LCD模组的过程中，存在着多种贴膜、压合的工艺，在加工过程中难免会引入一些灰尘、杂质等异物，从而造成LCD模组的成品存有缺陷。传统的解决办法是采用人工检测方式，然而随着机器视觉行业的快速发展，机器视觉缺陷检测已经在诸多行业取代了旧有的人工检测方式，极大地提高的了检测效率。机器视觉缺陷检测通常会利用高分辨率的黑白工业相机对LCD模组画面进行成像检测，分别拍摄两张产品画面，一张为背光点亮时的LCD模组的成像画面，另一张为表面打光的LCD模组成像画面，通过检测算法对比两个图像之间亮点的位置从而区分和识别异物缺陷。

在现有技术中，公开号为CN110445921A的专利(一种基于机器视觉的手机屏背光异物缺陷诊断方法及装置)中，提出了一种异物缺陷诊断方法，在灰尘干扰因素的去除上设计了一种灰尘侧光装置，能排除灰尘对背光异物缺陷的干扰，并针对整个背光异物缺陷的检测设计了一套检测算法能识别手机屏中是否含有缺陷。

上述现有技术存在以下缺点：

在灰尘侧光装置对灰尘进行打亮和成像时，容易把异物缺陷也成像出来，缺陷可能被误判为表面灰尘而被过滤出去，造成了异物缺陷漏检的问题。因此，需要研发一种在待测图像中根据灰度值区分表面灰尘和异物缺陷的方法。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本申请提供一种用于对LCD模组进行检测的方法，该方法能够提升LCD模组异物缺陷检测的准确度，提高检测效率。

本申请第一方面提供一种用于对LCD模组进行检测的方法，包括：提供第一光波与第二光波，所述第一光波为表面打光光源发出的光波，所述第一光波为三基色光中的任意一种基色光，基色滤光片为滤光装置内的三基色滤光片中的任意一种滤光片，所述第二光波是由背光光源所发出，所述第二光波包含至少一种与所述第一光波不一样的基色光；根据所述第一光波的基色切换第一基色滤光片；通过黑白工业相机透过所述第一基色滤光片对LCD模组进行拍摄，得到第一LCD模组图像；根据所述第二光波的基色切换第二基色滤光片；通过所述黑白工业相机透过所述第二基色滤光片对所述LCD模组进行拍摄，得到第二LCD模组图像。

在一种实施方式中，所述方法还包括：对各LCD模组图像分别进行感兴趣区域提取，得到相应的LCD待测图像，所述LCD待测图像中包括至少一个响应亮点；获取所述LCD待测图像中至少一个响应亮点分别对应的亮点灰度值；使用灰度阈值对至少一个响应亮点分别对应的亮点灰度值进行阈值分割，确定各LCD模组图像中至少一个响应亮点对应的异物类型，所述异物类型包括灰尘和异物缺陷。

在一种实施方式中，根据第二光波的基色切换第二基色滤光片，包括：若第二光波为三种基色组合的光，则切换第二基色滤光片为三基色滤光片中颜色与第一光波的基色不一样的滤光片；若第二光波为任意两种基色组合的光，则切换第二基色滤光片为三基色滤光片中颜色与第一光波的基色不一样且与第二光波的任意一种基色一致的滤光片；若第二光波为一种基色光，则切换第二基色滤光片为三基色滤光片中颜色与第二光波的基色一致的滤光片。