[发明专利]用于对LCD模组进行检测的方法、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202110496483.9 | 申请日: | 2021-05-07 |
| 公开(公告)号: | CN113295710A | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
| 发明(设计)人: | 李国晓;李良湾;苏达顺;王巧彬 | 申请(专利权)人: | 高视科技(苏州)有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/94;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11804 | 代理人: | 李波;王颖慧 |
| 地址: | 215011 江苏省苏州市高新区嘉陵江路19*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 lcd 模组 进行 检测 方法 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种用于对LCD模组进行检测的方法,其特征在于,包括:
提供第一光波与第二光波,所述第一光波为表面打光光源发出的光波,所述第一光波为三基色光中的任意一种基色光,基色滤光片为滤光装置内的三基色滤光片中的任意一种滤光片,所述第二光波是由背光光源所发出,所述第二光波包含至少一种与所述第一光波不一样的基色光;
根据所述第一光波的基色切换第一基色滤光片;
通过黑白工业相机透过所述第一基色滤光片对LCD模组进行拍摄,得到第一LCD模组图像;
根据所述第二光波的基色切换第二基色滤光片;
通过所述黑白工业相机透过所述第二基色滤光片对所述LCD模组进行拍摄,得到第二LCD模组图像。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
对各LCD模组图像分别进行感兴趣区域提取,得到相应的LCD待测图像,所述LCD待测图像中包括至少一个响应亮点;
获取所述LCD待测图像中至少一个响应亮点分别对应的亮点灰度值;
使用灰度阈值对至少一个响应亮点分别对应的亮点灰度值进行阈值分割,确定各LCD模组图像中至少一个响应亮点对应的异物类型,所述异物类型包括灰尘和异物缺陷。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述根据第二光波的基色切换第二基色滤光片,包括:
若所述第二光波为三种基色组合的光,则切换所述第二基色滤光片为三基色滤光片中颜色与所述第一光波的基色不一样的滤光片;
若所述第二光波为任意两种基色组合的光,则切换所述第二基色滤光片为三基色滤光片中颜色与所述第一光波的基色不一样且与所述第二光波的任意一种基色一致的滤光片;
若所述第二光波为一种基色光,则切换所述第二基色滤光片为三基色滤光片中颜色与所述第二光波的基色一致的滤光片。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,
所述灰度阈值根据在同一LCD待测图像中的至少一个响应亮点分别对应的亮点灰度值的数值范围确定;
所述使用灰度阈值对至少一个响应亮点分别对应的亮点灰度值进行阈值分割,包括:
分别将各个亮点灰度值与所述灰度阈值对比。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,
所述确定各LCD模组图像中至少一个响应亮点对应的异物类型,包括:
若当前亮点灰度值小于所述灰度阈值,则判定当前亮点灰度值对应的响应亮点的异物类型为所述灰尘;
若当前亮点灰度值大于所述灰度阈值,则判定当前亮点灰度值对应的响应亮点的异物类型为所述异物缺陷。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,
所述确定各LCD模组图像中至少一个响应亮点对应的异物类型之后,包括:
在所述LCD待测图像中将判断为所述灰尘的响应亮点滤除。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
在通过黑白工业相机对LCD模组进行拍摄之前,所述方法还包括:
通过所述背光光源以及所述表面打光光源打亮所述LCD模组;
所述表面打光光源以照射角度为α照射所述LCD模组,所述照射角度为所述表面打光光源发出的光波与水平面法线所形成的夹角,所述α大于零。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述通过黑白工业相机透过所述第一基色滤光片或者所述第二级色滤光片对LCD模组进行拍摄,包括:
通过所述黑白工业相机透过所述第一基色滤光片或者所述第二基色滤光片拍摄所述LCD模组的屏幕表面正视图。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;以及
存储器,其上存储有可执行代码,当所述可执行代码被所述处理器执行时,使所述处理器执行如权利要求1-8中任一项所述的方法。
10.一种非暂时性机器可读存储介质,其上存储有可执行代码,当所述可执行代码被电子设备的处理器执行时,使所述处理器执行如权利要求1-8中任一项所述的方法。
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