[发明专利]计算经优化读取电压在审

专利信息
申请号: 202110490244.2 申请日: 2021-05-06
公开(公告)号: CN113628663A 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: P·R·哈亚特;J·菲兹帕特里克;A·S·埃侯赛因;S·帕塔萨拉蒂 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12;G11C29/20;G11C29/42;G11C29/44
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 彭晓文
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 计算 优化 读取 电压
【权利要求书】:

1.一种存储器装置,其包括:

集成电路封装,其围封所述存储器装置;以及

多个存储器单元群组,其形成于至少一个集成电路裸片上;

其中响应于标识所述多个群组内的存储器单元群组的命令,所述存储器装置被配置成:

在多个测试电压下读取所述存储器单元群组;

分别确定所述测试电压下的位计数,其中测试电压下的每一位计数标识所述群组中存储器单元的数目,所述存储器单元当在所述测试电压下进行读取时提供预定位值;

计算所述测试电压中的邻近电压对的所述位计数中的计数差,其中所述测试电压中的邻近电压对之间的电压间隔的每一计数差是所述邻近电压对的位计数之间的差;

在所述计数差当中标识不大于所述计数差中的至少两个的第一计数差,其中所述第一计数差具有不在所述计数差中的所述至少两个的两个电压间隔之间的电压间隔;并且

基于所述第一计数差与第二计数差之间的比率来确定所述第一计数差的所述电压间隔中的经优化读取电压的位置,所述第二计数差具有最接近于所述计数差中的所述至少两个中的所述第一计数差的所述电压间隔的电压间隔。

2.根据权利要求1所述的存储器装置,其中所述经优化读取电压的所述位置选自所述第一计数差的所述电压间隔上的多个候选者。

3.根据权利要求2所述的存储器装置,其中所述多个候选者均匀分布在所述第一计数差的所述电压间隔上。

4.根据权利要求3所述的存储器装置,其中所述多个候选者对应于所述第一计数差与所述第二计数差之间的所述比率的对数分布。

5.根据权利要求2所述的存储器装置,其中所述存储器装置被配置成:

按比例缩放所述第一计数差及所述第二计数差中的至少一个以产生经按比例缩放版本;并且

与所述经按比例缩放版本进行比较以从多个候选者选择所述经优化读取电压的所述位置。

6.根据权利要求5所述的存储器装置,其中所述存储器装置被配置成通过位移位操作来按比例缩放所述第一计数差和所述第二计数差中的所述至少一个。

7.根据权利要求6所述的存储器装置,其中所述存储器装置被配置成:

反复地移位所述第一计数差和所述第二计数差中的第一者以产生一系列经按比例缩放版本;

将所述系列的所述经按比例缩放版本一个接一个地与所述第一计数差和所述第二计数差中的第二者进行比较;并且

响应于所述系列的经按比例缩放版本中的任一者与所述第一计数差和所述第二计数差中的所述第二者相比满足预定关系,将所述经优化读取电压的所述位置调整预定增量。

8.根据权利要求7所述的存储器装置,其中所述预定增量是所述第一计数差的所述电压间隔的五分之一。

9.一种方法,其包括:

在多个测试电压下读取存储器装置中的存储器单元群组;

分别确定所述测试电压下的位计数,其中测试电压下的每一位计数标识所述群组中存储器单元的数目,所述存储器单元当在所述测试电压下进行读取时提供预定位值;

计算所述测试电压中的邻近电压对的所述位计数中的计数差,其中所述测试电压中的邻近电压对之间的电压间隔的每一计数差是所述邻近电压对的位计数之间的差;

在所述计数差当中标识不大于所述计数差中的至少两个的第一计数差,其中所述第一计数差具有不在所述计数差中的所述至少两个的两个电压间隔之间的电压间隔;并且

基于所述第一计数差与第二计数差之间的比率来确定所述第一计数差的所述电压间隔中的经优化读取电压的位置,所述第二计数差具有最接近于所述计数差中的所述至少两个中的所述第一计数差的所述电压间隔的电压间隔。

10.根据权利要求9所述的方法,其中基于将所述第一计数差与所述第二计数差之间的所述比率的对数尺度映射到所述第一计数差的所述电压间隔中的所述经优化读取电压的所述位置的线性分布来确定所述经优化读取电压的所述位置。

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