[发明专利]测试电路、测试设备以及测试电路测试方法在审
申请号: | 202110485124.3 | 申请日: | 2021-04-30 |
公开(公告)号: | CN113176488A | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
发明(设计)人: | 陈跃俊;巩志远;刘兴;袁鑫 | 申请(专利权)人: | 北京华峰测控技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/52;G01R31/14 |
代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 吴娜娜 |
地址: | 100071 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 电路 设备 以及 方法 | ||
1.一种测试电路,其特征在于,包括:
电源;
第一开关和二极管,所述第一开关和所述二极管串联于所述电源的正极和所述电源的负极之间,所述二极管的阳极与所述电源的正极连接;
电感,所述电感包括第一端和第二端,所述电感的第一端与所述二极管的阴极连接;
第二开关,所述第二开关的一端与所述电源的正极连接,所述第二开关的另一端与所述电感的第二端连接;以及
测试端,所述测试端的一端与所述电感的第二端连接,所述测试端的另一端与所述电源的负极连接。
2.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第一开关、所述第二开关中至少一个为绝缘栅双极型晶体管。
3.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,还包括控制电路,所述控制电路分别与所述电源、所述第一开关、所述第二开关、所述测试端连接,所述控制电路用于控制所述电源、所述第一开关、所述第二开关和所述测试端的工作状态。
4.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述电源包括电容,所述电容的正极板作为所述电源的正极、所述电容的负极板作为所述电容的负极,所述电容的正极板与所述第一开关的一端连接,所述第一开关的另一端与所述二极管的阴极连接,所述二极管的阳极与所述电容的负极板连接。
5.如权利要求4所述的测试电路,其特征在于,所述电源还包括充电设备,所述充电设备的正极与所述电容的正极板连接,所述充电设备的负极与所述电容的负极板连接。
6.一种测试设备,其特征在于,包括权利要求1-5任一项所述的测试电路。
7.一种测试电路的测试方法,所述测试电路包括:
电源;
第一开关和二极管,所述第一开关和所述二极管串联于所述电源的正极和所述电源的负极之间,所述二极管的阳极与所述电源的正极连接;
电感,所述电感包括第一端和第二端,所述电感的第一端与所述二极管的阴极连接;
第二开关,所述第二开关的一端与所述电源的正极连接,所述第二开关的另一端与所述电感的第二端连接;
测试端,所述测试端的一端与所述电感的第二端连接,所述测试端的另一端与所述电源的负极连接,其特征在于,所述测试方法包括:
在第一时刻控制所述第一开关导通;
在第二时刻开启被测试器件;
在第三时刻关闭所述第一开关,关闭所述被测试器件;
在第四时刻开启所述第二开关;
其中,所述第一时刻、所述第二时刻、所述第三时刻、所述第四时刻依次按照时间先后排列。
8.如权利要求7所述的测试电路的测试方法,其特征在于,在所述第一时刻之前,还包括在所述测试端插入被测试器件的步骤。
9.一种测试设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求7-8中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求7-8中任一项所述的方法的步骤。
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