[发明专利]具有表面电极的NTC热敏电阻芯片筛选测试辅助工装在审
申请号: | 202110478439.5 | 申请日: | 2021-04-30 |
公开(公告)号: | CN112986749A | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 巨钧栋;韦春菊;毛洪艳;张君梅;何勤;李奉华;曾秀梅 | 申请(专利权)人: | 成都宏明电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/01 | 分类号: | G01R31/01;G01R27/02;G01R1/04 |
代理公司: | 成都华辰智合知识产权代理有限公司 51302 | 代理人: | 贺凤 |
地址: | 610000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 表面 电极 ntc 热敏电阻 芯片 筛选 测试 辅助 工装 | ||
本发明公开了一种具有表面电极的NTC热敏电阻芯片筛选测试辅助工装,用于对具有表面电极的NTC热敏电阻芯片进行筛选测试,包括导电且横向的公共电极板、横向的绝缘基板、横向的绝缘盖板和轴向为竖向的金属柱,绝缘基板上设有多个基板通孔,绝缘盖板上设有多个盖板通孔,盖板通孔包括小孔径通孔和大孔径通孔,金属柱包括小外径柱和大外径柱,绝缘盖板、绝缘基板和公共电极板在竖向依次重叠连接,大外径柱置于大孔径通孔内,小外径柱置于基板通孔内。本发明通过增加金属柱和对金属柱进行限位的绝缘基本,测试时将NTC热敏电阻芯片置于金属柱的小外径柱与公共电极板之间,测试笔尖接触金属柱而不接触电阻芯片表面,不会划伤电阻芯片表面。
技术领域
本发明涉及一种电子测试用辅助工装,尤其涉及一种具有表面电极的NTC热敏电阻芯片筛选测试辅助工装。
背景技术
NTC(Negative Temperature Coefficient)是指随温度上升电阻呈指数关系减小、具有负温度系数的热敏电阻现象和材料,该材料是利用锰、铜、硅、钴、铁、镍、锌等两种或两种以上的金属氧化物进行充分混合、成型、烧结等工艺而成的半导体陶瓷,可制成具有负温度系数的热敏电阻即NTC热敏电阻,其核心部件是NTC热敏电阻芯片。
NTC热敏电阻芯片的主要性能指标是产品的电阻值-温度对应关系,同时需考核在不同试验条件下的稳定性,采用规定温度下的零功率电阻值变化率以及外观完整性表征,以上要求均需要对NTC热敏电阻芯片进行不同环境条件的筛选试验及试验前后测试,筛选试验是为了有效剔除产品的早期失效品。
具有表面电极的NTC热敏电阻芯片是指两个电极分别位于电阻芯片两侧表面的NTC热敏电阻芯片,其两个电极一般为金电极或银电极,金或银均为软质金属,所以两个电极都容易被坚硬物体划伤。
对具有表面电极的NTC热敏电阻芯片进行筛选测试的传统方法如下:
在一块4mm厚度的紫铜板上,铣出多个直径5mm、深度1mm的安装孔,将多个NTC热敏电阻芯片放置于多个一一对应的安装孔中,测试时将测试笔尖直接放置于电阻芯片表面,测试完成后在铜板上面盖上保护盖,采用螺栓固定住,然后进行试验,试验完成后取下保护盖再次进行测试,比较前后测试结果即可了解电阻芯片性能是否满足要求。
上述NTC热敏电阻芯片筛选测试的传统方法存在如下诸多缺陷:
1、测试笔尖直接接触电阻芯片表面,由于NTC热敏电阻芯片的两个电极的金或银均为软质金属,其表面极易被测试笔尖划伤,也容易造成电阻芯片边角缺损,从而损坏电阻芯片或降低电阻芯片性能;
2、测试笔尖直接接触电阻芯片表面,会造成电阻芯片随测试笔的移动而产生位移,从而造成产品序列混乱,电阻值测试重复性不好,不利于后期实施自动化数据采集,影响测试精确度,同时对操作人员技能要求高,即对操作人员的力量把握要求较高;
3、在进行筛选试验时,每次试验后需要打开保护盖板测试电阻值,操作繁琐,而且打开盖板时电阻芯片容易粘附在保护盖板上,还需要取下后再次放置在安装孔内;
4、由于电阻芯片与安装孔孔壁靠近,所以测试笔容易与紫铜板即公共电极铜板接触,影响测试结果。
发明内容
本发明的目的就在于为了解决上述问题而提供一种便于快速、精准完成测试且不会划伤电阻芯片的具有表面电极的NTC热敏电阻芯片筛选测试辅助工装。
本发明通过以下技术方案来实现上述目的:
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