[发明专利]用于光纤测试的宏弯装置在审
申请号: | 202110453429.6 | 申请日: | 2021-04-26 |
公开(公告)号: | CN113125113A | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 周杭明;吴玲红 | 申请(专利权)人: | 杭州富通通信技术股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙) 33260 | 代理人: | 朱林军 |
地址: | 310000 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光纤 测试 装置 | ||
本申请公开了一种用于光纤测试的宏弯装置,包括机座以及安装在基座上的绕纤组件,绕纤组件包括:芯轴,转动安装在机座上;起始限位轴,一端与芯轴的中部固定,起始限位轴的轴线垂直于芯轴的轴线,起始限位轴的外径与芯轴的外径相同;手轮,固定在芯轴远离机座的一端。本申请的宏弯装置使用时,先将光纤套在起始限位轴上,然后通过转动手轮使光纤绕在起始限位轴两侧的芯轴上。起始限位轴的外径与芯轴的外径相同,套在起始限位轴上的光纤绕设了半圈,后面手轮绕n圈,光纤缠绕2n圈。本申请的绕纤组件结构简单,相对于人工手绕而言,操作方便,效率高。
技术领域
本发明涉及光纤测试设备领域,具体涉及用于光纤测试的宏弯装置。
背景技术
目前G657单模光纤宏弯损耗试验的方法,主要采用的是人工手绕的方法,将光纤松绕在单独的芯轴上,松绕相应圈数后在1550nm和1625nm波长处测量附加衰减。
发明内容
本发明针对上述问题,提出了一种用于光纤测试的宏弯装置。
本发明采取的技术方案如下:
一种用于光纤测试的宏弯装置,包括机座以及安装在基座上的绕纤组件,所述绕纤组件包括:
芯轴,转动安装在所述机座上;
起始限位轴,一端与所述芯轴的中部固定,所述起始限位轴的轴线垂直于所述芯轴的轴线,所述起始限位轴的外径与所述芯轴的外径相同;
手轮,固定在芯轴远离机座的一端。
本申请的宏弯装置使用时,先将光纤套在起始限位轴上,然后通过转动手轮使光纤绕在起始限位轴两侧的芯轴上。起始限位轴的外径与芯轴的外径相同,套在起始限位轴上的光纤绕设了半圈,后面手轮绕n圈,光纤缠绕2n圈。本申请的绕纤组件结构简单,相对于人工手绕而言,操作方便,效率高。
本申请所说的中部并不仅限定于正中间。
于本发明其中一实施例中,所述绕纤组件的芯轴水平设置。
芯轴水平设置方便检测人员进行操作。
于本发明其中一实施例中,所述芯轴的中部具有螺纹孔,所述起始限位轴为中空轴,所述起始限位轴的端部具有与所述芯轴外侧壁相适配的圆弧形凹口,所述起始限位轴通过螺栓与芯轴的螺纹孔连接。
通过圆弧形凹口能够使起始限位轴与芯轴完美配合;通过螺栓和螺纹孔的配合,使起始限位轴可拆卸安装在芯轴上,这不仅能实现低成本的加工制造,而且方便更换维护。
于本发明其中一实施例中,所述绕纤组件有多个,绕所述机座的轴线间隔分布,各绕纤组件的芯轴的外径均不相同。
实际运用时,通过设置4种不同直径的芯轴,可同时满足四种类型的单模光纤的宏弯测试要求,比如G657A1、G657A2、G657B2和G657B3。
于本发明其中一实施例中,所述绕纤组件有四个,绕所述机座的轴线均匀分布。
于本发明其中一实施例中,宏弯装置还包括底座,所述机座转动安装在所述底座上,所述机座下端具有多个定位槽,各定位槽与绕纤组件一一对应,所述底座上具有弹簧柱塞,所述弹簧柱塞与定位槽配合,用于使机座定位住。
通过弹簧柱塞与定位槽的配合能够对机座进行定位,使宏弯装置工作时稳定可靠;当需要测试其他类型的单模光纤时,只需施加一定的力矩使机座转动,切换至对应的绕纤组件即可,有效避免了在使用不同直径芯轴的时候搬动装置的麻烦。
实际运用时,优选的,定位槽为半球孔。
于本发明其中一实施例中,所述机座的侧壁具有绕芯轴设置的角度标识,所述芯轴靠近机座的外侧壁具有读数标记。
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