[发明专利]一种半设备无关的量子态层析方法有效
| 申请号： | 202110453129.8 | 申请日： | 2021-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN113238424B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 高江;李剑;陆铮;王琴;程崇虎;庞志广;魏敏 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G02F1/35 | 分类号： | G02F1/35;G02F1/355;G02F1/39;G02B27/28 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 周科技 |
| 地址： | 210003 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 设备 无关 量子 层析 方法 | ||
1.一种半设备无关的量子态层析方法，其特征在于：所述方法包括参量光源的制备部分以及基于HOM干涉的联合测量部分；其中参量光源的制备部分利用激光通过非线性晶体泵浦产生自发参量下转换过程制备光子对；
将两个光子分开作为HOM干涉的两路输入，一路进行辅助态的制备，另一路进行待测量子态的制备；基于HOM干涉的联合测量部分包括两块1/2玻片、两块1/4波片、两个偏振分束器PBS以及一个光分束器BS；
在HOM干涉的两路输入中，一路为辅助态，另一路为待测量子态即目标态；两路光信号分别从偏振分束器PBS经过1/2波片与1/4波片，然后作为光分束器BS的输入打到BS上；通过1/2波片与1/4波片制备任意偏振的待测量子态与辅助态；将1/2波片与1/4波片分别旋转到(0,0),(45,0),(-22.5,45),(0,45)角度以构建一组层析完备的辅助态；
利用HOM干涉产生的联合测量算符与信息完备的辅助态，通过参数估计法实现对量子态的层析，还原待测量子态的具体形式。
2.根据权利要求1所述的半设备无关的量子态层析方法，其特征在于：HOM干涉所使用的BS透射率范围是(0.42,0.58)。
3.根据权利要求1所述的半设备无关的量子态层析方法，其特征在于：HOM干涉中用来进行态制备中的1/2波片和1/4波片均为真零级。
4.根据权利要求1-3任一所述的半设备无关的量子态层析方法，其特征在于：HOM干涉的输出端使用单光子探测器作为测量设备，测量符合计数。
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