[发明专利]屏幕异物缺陷与灰尘的区分方法、电子设备及存储介质

说明书

本申请是关于一种屏幕异物缺陷与灰尘的区分方法。该方法包括：在M个方向的光源下分别对待测屏幕进行拍摄，使得异物缺陷和灰尘形成亮点；滤波降噪处理后，目标检测图像中确定亮点位置；获取目标检测图像中各个像素点的像素值；根据像素值获得对应的表面法向量；根据目标检测图像中的像素值以及表面法向量建立待测屏幕表面的三维图像；获取三维图像中具有立体形态数据的区域的位置信息，根据立体形态数据确定灰尘在待测屏幕中的位置；根据灰尘在待测屏幕中的位置与亮点位置区分异物缺陷与灰尘。本申请提供的方案，能够对屏幕的异物缺陷以及表面灰尘加以区分，降低因表面灰尘造成误检的几率，提高屏幕异物缺陷检测的准确度以及检测效率。

技术领域

本申请涉及屏幕检测技术领域，尤其涉及屏幕异物缺陷与灰尘的区分方法、电子设备及存储介质。

背景技术

液晶屏幕通常会在处于超净环境中的生产车间内部生产而得，即使是在超净环境中，仍难免会引入灰尘污染，尤其在液晶层上下两面各贴合一层偏振片薄膜时，在贴合过程中容易把灰尘等异物引入到屏幕内部，形成异物缺陷。在液晶屏幕成形之后这种异物缺陷无法消除，但是液晶屏幕表面上的灰尘是可以通过清洁手段进行消除的，因此需要对异物缺陷以及表面灰尘加以区分，避免因表面灰尘造成过检率的提升，以达到提升良品率及降低生产成本的目的。

在现有技术中，在公开号为CN112435248A的专利（缺陷检测方法、装置、控制装置和可读存储介质）中，提出了基于光度立体法，根据获取的待测目标的图像集合，确定待测目标得反射率图和高斯率图，根据反射率图和高斯率图，判断待测目标是否存在疑似缺陷，若待测目标存在疑似缺陷，则根据待测目标对应的二值化图像，确定疑似缺陷的种类。

上述现有技术存在以下缺点：

上述技术方案适合用于检测凹陷或划痕类型的缺陷，而在屏幕生产检测中需要检测的是异物缺陷以及表面灰尘缺陷，并将两种缺陷类型加以区分，因此需要研发一种对屏幕内部的异物缺陷与屏幕表面的灰尘作出区分的方法。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本申请提供一种屏幕异物缺陷与灰尘的区分方法，该屏幕异物缺陷与灰尘的区分方法，能够对屏幕的异物缺陷以及表面灰尘加以区分，降低因表面灰尘造成误检的几率，提高屏幕异物缺陷检测的准确度以及检测效率。

本申请第一方面提供一种屏幕异物缺陷与灰尘的区分方法，包括：

在M个方向的光源下分别对待测屏幕进行拍摄，使得异物缺陷和灰尘形成亮点，得到M个待测图像，M为大于3的整数；

对M个待测图像进行滤波降噪处理，得到M个目标检测图像，在M个目标检测图像中确定亮点位置，亮点位置为异物缺陷和灰尘在待测屏幕中的位置；

获取各个目标检测图像中各个像素点的像素值；

根据各个像素点的像素值获得各个像素点的表面法向量；

根据M个目标检测图像中的各个像素点的像素值以及各个像素点的表面法向量建立待测屏幕表面的三维图像；

获取三维图像中具有立体形态数据的区域的位置信息，根据立体形态数据确定灰尘在待测屏幕中的位置，立体形态数据包括高度数据和曲面梯度；

根据灰尘在待测屏幕中的位置与亮点位置区分异物缺陷与灰尘。

在一种实施方式中，根据各个像素点的像素值获取各个像素点的表面法向量，包括：

根据各个像素点的像素值通过朗伯反射模型获取各个像素点的表面法向量。

在一种实施方式中，根据各个像素点的像素值通过朗伯反射模型获取各个像素点的表面法向量，包括：

设定各个方向的光源的光源强度以及光源方向单位向量；