[发明专利]一种晶体探测器检测装置

说明书

本发明属于材料测试技术领域，尤其涉及一种晶体探测器检测装置。该晶体探测器检测装置包括基板、设置在基板上的至少两个安装件、放射源检测机构及带动放射源检测机构运动的移动机构，安装件用于放置待检测的晶体探测器，移动机构带动放射源检测机构沿基板的长度方向移动，安装件沿移动机构的移动方向布置，放射源检测机构设置在安装件的正上方，放射源检测机构依次经过安装件的上方并对安装在安装件上的晶体探测器进行检测。由此，该晶体探测器检测装置，提高了晶体探测器的检测效率且降低了操作人员的辐射剂量。

技术领域

本发明属于材料测试技术领域，尤其涉及一种晶体探测器检测装置。

背景技术

闪烁晶体可用于x射线、γ射线、中子及其他高能粒子的探测，以闪烁晶体为核心的探测和成像技术已经在核医学、高能物理、安全检查、工业无损探伤、空间物理及核探矿等方面得到了广泛的应用。

闪烁晶体在大规模使用时需要检测标定其发光光产额，这一过程需要使用放射源。当检定的闪烁晶体数量庞大时，放射源的使用频次高、时间长，从而使得操作人员与放射源共处时间长受到辐射危险。

现有的，通过采用固定放射源，让包括闪烁晶体的晶体探测器移动，但晶体探测器本身一般都会带有大量接线，包括控制线、数据传输线和电源线等，测量工装移动到放射源照射范围测量时会带动接线，工装移动频繁容易造成接线吃力位置断裂甚至脱落，造成测量工装损伤，测试数据不准确等问题。且在操作人员更换晶体探测器上的闪烁晶体时，实际放射源处于闲置空闲状态，增加了晶体探测器的检定时间。

发明内容

(一)要解决的技术问题

为了解决现有技术的上述问题，本发明提供了一种晶体探测器检测装置，能够提高晶体探测器的检测效率且降低了操作人员的辐射剂量。

(二)技术方案

为了达到上述目的，本发明采用的主要技术方案包括：

本发明提供了一种晶体探测器检测装置包括基板、设置在基板上的至少两个安装件、放射源检测机构及带动放射源检测机构运动的移动机构；

安装件用于放置待检测的晶体探测器；

移动机构带动放射源检测机构沿基板的长度方向移动；

安装件沿移动机构的移动方向布置，放射源检测机构依次经过安装件的上方并对安装在安装件上的晶体探测器进行检测。

优选地，移动机构包括沿基板长度方向设置的两条导轨及沿导轨滑动连接的滑块；

两条导轨平行设置在基板上，安装件沿导轨的长度方向设置，且安装件设置在两条导轨之间；

放射源检测机构与滑块连接，滑块带动放射源检测机构沿导轨滑动以依次检测安装在安装件上的晶体探测器。

优选地，放射源检测机构包括放射源本体、用于支撑放射源本体的支架和套设在放射源本体外侧的防护罩；

支架包括放置板和支撑框架，放置板设置在支撑框架的顶端，防护罩设置在放置板上，放射源本体设置在防护罩的内部，且放置板对应设有放射源出口，放射源本体通过放射源出口照射在安装件上；

支撑框架的底端与滑块连接，支撑框架通过滑块在滑轨上移动。

优选地，在防护罩内设有被铅围合形成的铅腔，铅腔的开口向下，所述放射源本体设置在铅腔的内部顶端，铅腔呈长方体。。

优选地，基板的宽度w₃大于放射源本体照射在地面的光源宽度w₄，w₄参照如下公式得出：