[发明专利]一种晶体探测器检测装置

权利要求书

1.一种晶体探测器检测装置，其特征在于，包括基板、设置在所述基板上的至少两个安装件、放射源检测机构及带动所述放射源检测机构运动的移动机构；

所述安装件用于放置待检测的晶体探测器；

所述移动机构带动所述放射源检测机构沿基板的长度方向移动；

所述安装件沿所述移动机构的移动方向布置，所述放射源检测机构依次经过所述安装件的上方并对安装在所述安装件上的所述晶体探测器进行检测。

2.根据权利要求1所述的一种晶体探测器检测装置，其特征在于，

所述移动机构包括沿所述基板长度方向设置的两条导轨及沿所述导轨滑动连接的滑块；

两条所述导轨平行设置在所述基板上，所述安装件沿所述导轨的长度方向设置，且所述安装件设置在两条所述导轨之间；

所述放射源检测机构与所述滑块连接，所述滑块带动所述放射源检测机构沿所述导轨滑动以依次检测安装在所述安装件上的所述晶体探测器。

3.根据权利要求2所述的一种晶体探测器检测装置，其特征在于，

所述放射源检测机构包括放射源本体、用于支撑所述放射源本体的支架和套设在所述放射源本体外侧的防护罩；

所述支架包括放置板和支撑框架，所述放置板设置在所述支撑框架的顶端，所述防护罩设置在所述放置板上，所述放射源本体设置在所述防护罩的内部，且所述放置板对应设有放射源出口，所述放射源本体通过所述放射源出口照射在所述安装件上；

所述支撑框架的底端与所述滑块连接，所述支撑框架通过所述滑块在所述滑轨上移动。

4.根据权利要求3所述的一种晶体探测器检测装置，其特征在于，

在所述防护罩内设有被铅围合形成的铅腔，所述铅腔的开口向下，所述放射源本体设置在所述铅腔的内部顶端，所述铅腔呈长方体。

5.根据权利要求4所述的一种晶体探测器检测装置，其特征在于，

所述基板的宽度w₃大于所述放射源本体照射在地面的光源宽度w₄，所述w₄参照如下公式得出：

w₄＝w₂+(h₂+h₃)·(w₁+w₂)/(h₁-h₀)；

其中，所述放射源本体的宽度为w₁，所述放射源本体上下表面之间的高度为h₀；

所述基板的顶端距地面的距离为h₃；

所述铅腔的宽度为w₂，所述铅腔的高度为h₁；

所述防护罩底端距所述基板顶端的距离为h₂。

6.根据权利要求4所述的一种晶体探测器检测装置，其特征在于，

所述放射源本体通过亚克力托板连接在所述铅腔的内部顶端。

7.根据权利要求2所述的一种晶体探测器检测装置，其特征在于，

在所述滑块上设有通孔，在所述导轨侧壁上对应设有相匹配的定位孔，每个所述定位孔对应一个所述安装件，所述通孔与所述定位孔对准后，通过插销连接。

8.根据权利要求2所述的一种晶体探测器检测装置，其特征在于，

还包括限位块，所述限位块分别设置在每条所述导轨的两端。

9.根据权利要求3所述的一种晶体探测器检测装置，其特征在于，

所述放射源检测机构还包括把手；

所述把手设置在所述防护罩的顶端。

10.根据权利要求3所述的一种晶体探测器检测装置，其特征在于，

所述放射源检测机构还包括锁扣；

所述锁扣设置在所述防护罩的侧壁上以将所述防护罩和所述放置板锁合。