[发明专利]针脚式电子器件属性值快速测试器在审

专利信息
申请号: 202110411578.6 申请日: 2021-04-16
公开(公告)号: CN113311232A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 田川 申请(专利权)人: 国网山东省电力公司淄博供电公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R27/26;H05K7/20
代理公司: 淄博川诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 37275 代理人: 高鹏飞
地址: 255000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 针脚 电子器件 属性 快速 测试
【说明书】:

本发明属于微电子领域技术领域,尤其是针脚式电子器件属性值快速测试器,包括壳体,所述壳体的顶端设置有顶块,且顶块四周均为倾斜面,所述顶块的顶端设置的放置端,且放置端包括开设于顶块的检测条槽,所述检测条槽的两端均固定安装有探点块,且探点块顶端均开设有探点槽,所述顶块的两侧安装有提拉机构,所述壳体的内部固定安装有检测组件,且检测组件由电容检测模块、电感检测模块以及电阻检测模块组成,所述壳体内部靠近检测组件的一侧固定安装有中央处理器。本发明通过设置的水冷机构,能够利用半导体制冷器配合冷却液、水冷管的水冷作用,对中央处理器以及检测组件进行有效的降温处理,以避免其发生过热现象。

技术领域

本发明涉及微电子领域技术领域,尤其涉及针脚式电子器件属性值快速测试器。

背景技术

微电子技术是随着集成电路,尤其是超大型规模集成电路而发展起来的一门新的技术。微电子技术包括系统电路设计、器件物理、工艺技术、材料制备、自动测试以及封装、组装等一系列专门的技术,微电子技术是微电子学中的各项工艺技术的总和。微电子技术的关键在于研究集成电路的工作方式以及如何实际制造应用。集成电路的发展依赖于半导体器件的不断演化。微电子技术可在纳米级超小的区域内通过固体内的微观电子运动来实现信息的处理与传递,并且有着很好的集成性。现在无相应的针脚电子器件快速测试装置,需要通过记忆电阻本体色环、电抗器电容器本体数值来区分值得大小或通过查阅相关技术资料得到,对于色环不清晰,或大量使用时带来诸多不便。

经检索,中国专利申请号为CN2018111537028的专利,公开了一种电力电子器件测试装置,包括电源模块、系统控制单元、阻抗测试单元、低压测试单元、触发回报单元、输出控制单元、采样单元和外设。电源模块与外部交流电连接为装置提供电源,系统控制单元与阻抗测试单元、电压测试单元、触发回报单元、输出控制单元及采样单元连接,控制其他单元的输出。该专利能够解决上述问题,但是该专利在长时间运行过程中,测试单元以及控制处理单元,均容易产生过热现象,从而影响检测作业的运行,故而存在一定的局限性。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的问题,而提出的针脚式电子器件属性值快速测试器。

为了实现上述目的,本发明采用的技术方案如下。

针脚式电子器件属性值快速测试器,包括壳体,所述壳体的顶端设置有顶块,且顶块四周均为倾斜面,所述顶块的顶端设置的放置端,且放置端包括开设于顶块的检测条槽,所述检测条槽的两端均固定安装有探点块,且探点块顶端均开设有探点槽,所述顶块的两侧安装有提拉机构,所述壳体的内部固定安装有检测组件,且检测组件由电容检测模块、电感检测模块以及电阻检测模块组成,所述壳体内部靠近检测组件的一侧固定安装有中央处理器,所述壳体的一侧外壁固定安装有冷却机构,所述壳体靠近冷却机构的一侧安装设置有显示屏。

优选地,所述冷却机构包括通过固定安装于壳体一侧的冷却侧盒,且冷却侧盒的一侧开设有安装槽口,所述安装槽口的内壁固定安装有半导体制冷器,且半导体制冷器的制冷端靠近冷却侧盒的内部。

优选地,所述冷却侧盒靠近半导体制冷器的一侧固定安装有隔板,且隔板的剖面为C形结构,所述冷却侧盒靠近端部的两侧分别固定安装有隔片,且隔片与冷却侧盒构成冷却腔,所述冷却腔的内部填充有冷却液。

优选地,位于顶端所述隔片的一侧固定安装有微型泵,且微型泵的输入端固定连接有螺旋管,所述螺旋管的外壁开设有等距离分布的通孔,底端所述隔片固定连接有水冷管。

优选地,所述水冷管的另一端与微型泵的输出端固定连接,且水冷管整体为U形结构,所述壳体内部固定设置有换热铜片,且换热铜片与中央处理器、检测组件相接触。

优选地,所述换热铜片的四周外壁均固定连接有换热支脚,且换热支脚的中端均为半圆状,所述换热支脚的中端包裹在水冷管的底端外壁。

优选地,所述提拉机构包括固定连接于壳体一侧外壁的提带,且壳体远离冷却机构的一侧固定安装有固定连接块。

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