[发明专利]对被测设备进行测量的方法

说明书

本发明涉及一种通过使用天线阵列对被测设备进行测量的方法，包括：提供包括多个天线元件的天线阵列，提供被配置为空中通信的测试设备，将被测设备定位在第一测试位置，在被测设备与天线阵列之间建立第一相对距离，当被测设备与天线阵列之间具有所述第一相对距离时，进行第一空中测量，从而得到第一测量结果，移动天线阵列和/或被测设备，在被测设备和天线阵列之间建立第二相对距离，以及当被测设备与天线阵列之间具有第二相对距离时，进行第二空中测量，从而得到第二测量结果，其中建立被测设备位于其中的静区，并且其中静区的尺寸是从第一测量结果和第二测量结果相关联的至少两个传递函数的组合得出的。此外，还描述一种测量系统。

技术领域

本发明涉及一种利用天线阵列对被测设备进行测量的方法。

背景技术

在现有技术中，已知的测量系统和方法是使用算法将所进行的近场(NF)天线测量结果转化为远场(FF)代表。由于进行了相应的变换，这些算法也称为NF/FF算法。

此外，已知平面波合成的概念，其使用具有多个天线元件的天线阵列，这些天线元件被单独控制，使得它们各自的信号在近场(即近距离)中叠加到平面波(远场条件)上。这些天线阵列也被称为平面波转换器(PWC)。因此，必须优化天线激励的各个权重，特别是幅度和相位系数，以确保近场中的平面波。

此外，为了获得准确的测量结果，需要一个均匀的静区。这可以通过增加由天线阵列提供的天线元件的密度来实现，同时优化天线激励的各个权重。当用于测试目的的信号频率增加时，这一点尤为重要，因为各个天线元件之间的间距最好是各自所用波长的一小部分，优选低于波长的一半。由于现代通信设备使用更高频率的通信标准，这在当今变得更加重要。

此外，包括大量天线元件的天线阵列也有助于增加相应静区的尺寸。这反过来又简化了被测大型设备的测试，因为它们需要一个适当尺寸的静区。

然而，天线阵列内的天线元件数量不能无限制地增加，因为这将增加天线阵列的成本和整体设置的复杂性，从而导致不切实际的测量系统。

因此，需要一种对被测设备进行测量的方法，以低成本的方式确保准确的测量结果。

发明内容

本发明提供了一种利用天线阵列对被测设备进行测量的方法。该方法包括以下步骤：

-提供包括多个天线元件的天线阵列，

-提供被配置为空中通信(OTA)的测试设备，

-将所述被测设备定位在第一测试位置，从而在所述被测设备与所述天线阵列之间建立第一相对距离，

-当所述被测设备与所述天线阵列之间具有所述第一相对距离时，进行第一空中测量，从而得到第一测量结果，

-移动所述天线阵列和/或所述被测设备，从而在所述被测设备与所述天线阵列之间建立第二相对距离，所述第二相对距离特别不同于所述第一相对距离，并且

-当所述被测设备与所述天线阵列之间具有所述第二相对距离时，进行第二空中测量，从而得到第二测量结果，

其中建立所述被测设备位于其中的静区，并且其中所述静区的尺寸是从所述第一测量结果和所述第二测量结果相关联的至少两个传递函数的组合得出的。

此外，本发明提供了一种用于对被测设备进行测量的测量系统。该测量系统包括具有多个天线元件的天线阵列和配置为空中通信的被测设备。天线阵列和/或被测设备彼此能够移动，使得测量系统提供至少两种不同的测试设置，所述测试设置对应于被测设备和天线阵列之间的不同相对距离。测量系统配置为在不同的测试设置中进行测量，以获得相应的测量结果。测量系统还被配置成建立静区，所述被测设备位于所述静区中。静区的尺寸是从测量系统的不同测试设置中获得的相应测量结果相关联的至少两个传递函数的组合得出的。