[发明专利]一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法

权利要求书

1.一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，包括以下几个步骤：

S1.菌种准备：将纹枯病菌株放置在PDA培养基，活化培养3-5天，获得菌丝，待用；

S2.扩大培养：将配置好的PDA培养基灭菌后，将菌丝饼接种至PDA培养基中间，待培养基表面长满白色菌丝后，待用；

S3.待鉴定水稻种质材料的准备：挑选待鉴定水稻种质材料和感病对照品种的饱满种子，浸种烘箱催芽，待种子破胸露白；

S4.将破胸露白的鉴定材料种子播于育秧盘，秧苗生长至2叶1心时进行间苗；

S5.准备接种鉴定平台：组培架每层装有多个荧光灯管，每层组培架四周用塑料薄膜进行密封，一侧开口，再用透明胶将开口密封；

S6.接种：待步骤S3水稻材料秧苗长至3-4叶期，在步骤S2活化扩大培养的菌落边缘，切取生长活跃的菌饼，将菌饼的菌丝面附着在植株基部，确保菌丝体与秧苗茎秆的完全接触,然后将接种后育秧盘放入步骤S5鉴定平台，塑料膜内早晚用喷壶喷水2次，保持相对湿度大于80％，组培架的每层光照周期为昼/夜12小时,昼夜空调温度分别设定为30℃和25℃；

S7.纹枯病苗期抗性鉴定评价。

2.根据权利要求1所述的一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，步骤S3中所述浸泡为将饱满种子装入牛皮纸袋浸种20-28小时，放入烘箱中35-45℃催芽24-36小时。

3.根据权利要求1所述的一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，步骤S4中所述育秧盘为128孔，所述育秧盘规格为54cm×28cm×5.0cm，孔穴规格为3cm×3cm×5.0cm，并且需将所述育秧盘放入规格为55cm×28.5cm×6.5cm的无孔托盘，保水深度为5cm，保持泥土湿润。

4.根据权利要求1所述的一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，步骤S4中播种方法为每个材料播5个穴，每穴播2粒种子，间苗方法为待长至2叶1心，播种后11-13d，每穴去除1株弱苗，株行距为3cm×6cm，待用。

5.根据权利要求1所述的一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，整个实验过程中，育秧底部都保持有5cm深度的水。

6.根据权利要求1所述的一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，所述纹枯病菌株为ZJ03。

7.根据权利要求1所述的一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，步骤S7中接种后每天观察纹枯病发生状况，当感病对照品种的80％秧苗的病斑生长高度/株高相对值达到1，开始测量参试材料植株的病斑生长高度和秧苗株高，进行纹枯病抗性鉴定。

8.根据权利要求1所述的一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，纹枯病评价标准采用病情指数级，其中病斑生长高度由土表测量至最高病斑的上界，秧苗株高由土表测量至最新完全叶的叶枕处。

9.根据权利要求1所述的一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，将待鉴定的水稻品种或品系等水稻材料的种子按步骤S2-S7至少再进行1次重复鉴定，以平均值作为待鉴定材料的最终纹枯病抗性值。

10.根据权利要求1所述的一种可控环境下水稻纹枯病抗性的苗期鉴定方法，其特征在于，所述PDA培养基添加四环素的浓度为0.005％。