[发明专利]一种特征确定方法、装置、电子设备以及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110389145.5 申请日: 2021-04-12
公开(公告)号: CN113112406B 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 李依明;李孟帆 申请(专利权)人: 山东迈科显微生物科技有限公司
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G02B21/00;G02B21/36
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 潘登
地址: 250000 山东省烟台市自由贸易试*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 特征 确定 方法 装置 电子设备 以及 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种特征确定方法,其特征在于,包括:

根据样本点的特征信息,构建贝塞尔曲线;

根据贝塞尔曲线上的点、样本点与样本图像之间的关系和待定位图像,确定待定位图像的目标样本图像;

将目标样本图像对应的样本点的特征信息,作为待定位图像所对应的点的特征信息;

所述根据贝塞尔曲线上的点、样本点与样本图像之间的关系和待定位图像,确定待定位图像的目标样本图像,包括:

从贝塞尔曲线上的点中取一点,作为目标点;

根据样本点与样本图像之间的关系,确定所述目标点的预测图像;

计算所述目标点的预测图像和所述待定位图像之间的距离;

根据所述距离,确定待定位图像的目标样本图像;

所述根据所述距离,确定待定位图像的目标样本图像,包括:

若距离大于预设值,则基于所述目标点的特征信息,计算残差函数的导数,以确定下一预测点与所述目标点之间的位置关系;其中,残差函数根据贝塞尔曲线上的点、样本点与样本图像之间的关系和待定位图像构建;

根据下一预测点与所述目标点之间的特征关系,从贝塞尔曲线上的点中确定下一预测点,作为目标点,并返回执行计算所述目标点的预测图像和所述待定位图像之间的距离的过程,直至距离小于预设值;

将所述目标点的预测图像作为待定位图像的目标样本图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,计算残差函数的导数,包括:

计算残差函数的雅可比行列式或黑塞矩阵。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据贝塞尔曲线上的点、样本点与样本图像之间的关系和待定位图像,确定待定位图像的目标样本图像,包括:

从贝塞尔曲线上的点中,确定预设数量的候选点;

根据样本点与样本图像之间的关系,确定所述候选点的候选图像;

根据所述候选图像与所述待定位图像之间的距离,从所述候选图像中确定所述待定位图像的目标样本图像。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述特征信息为位置信息。

5.一种特征确定装置,其特征在于,包括:

曲线构建模块,用于根据样本点的特征信息,构建贝塞尔曲线;

目标样本图像确定模块,用于根据贝塞尔曲线上的点、样本点与样本图像之间的关系和待定位图像,确定待定位图像的目标样本图像;

特征信息确定模块,用于将目标样本图像对应的样本点的特征信息,作为待定位图像所对应的点的特征信息;

所述目标样本图像确定模块,包括:

目标点确定单元,用于从贝塞尔曲线上的点中取一点,作为目标点;

预测图像确定单元,用于根据样本点与样本图像之间的关系,确定所述目标点的预测图像;

距离确定单元,用于计算所述目标点的预测图像和所述待定位图像之间的距离;

目标样本图像确定单元,用于根据所述距离,确定待定位图像的目标样本图像;

所述目标样本图像确定单元包括位置关系确定子单元和目标样本图像确定子单元,其中,

所述位置关系确定子单元,用于若距离大于预设值,则基于目标点的特征信息,计算残差函数的导数,以确定下一预测点与目标点之间的位置关系;其中,残差函数根据贝塞尔曲线上的点、样本点与样本图像之间的关系和待定位图像构建;

目标点确定子单元,用于根据下一预测点与目标点之间的特征关系,从贝塞尔曲线上的点中确定下一预测点,作为目标点,并返回执行计算目标点的预测图像和待定位图像之间的距离的过程,直至距离小于预设值;

所述目标样本图像确定子单元,用于将目标点的预测图像作为待定位图像的目标样本图像。

6.一种电子设备,其特征在于,包括:

一个或多个处理器;

存储器,用于存储一个或多个程序;

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-4中任一项所述的特征确定方法。

7.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的特征确定方法。

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