[发明专利]一种具有多孔径的电连接器接触可靠性建模方法在审

专利信息
申请号: 202110378475.4 申请日: 2021-04-08
公开(公告)号: CN113111506A 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 林敏;钱萍;陈文华;王哲;钟立强;张通;郭明达;姚华军 申请(专利权)人: 浙江理工大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F111/08;G06F119/02;G06F119/04;G06F119/14
代理公司: 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 代理人: 黄前泽
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 多孔 连接器 接触 可靠性 建模 方法
【权利要求书】:

1.一种具有多孔径的电连接器接触可靠性建模方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:

步骤一、建立接触压力与插针半径之间的关系模型,具体如下:

接触对的接触压力表达式为:

其中,E为簧片材料的弹性模量,Iz为簧片横截面关于中性层z的惯性矩,L为簧片长度,f为簧片的收口量,R2为簧片自由端端面内壁在收口前的曲率半径,R为插针半径;

步骤二、建立接触电阻与接触压力之间的关系模型,具体如下:

将接触件分为n段,结合体电阻、收缩电阻和膜层电阻进行分析,得到接触电阻r的具体表达式:

其中,ρ表示标准温度下接触件的电阻率,α1为电阻温度系数,Δt表示环境温度与标准温度之差,Lo表示第o段的长度,So表示第o段的横截面积,为表面粗糙度影响校准系数,R3为簧片自由端内壁处的圆角半径,E1、E2分别为插针、插孔材料的弹性模量,E1=E,v1、v2分别为插针、插孔材料的泊松比,为簧片与插针接触区的孔隙平均面积,t为时间,k1、q为常数,H表示插针和插孔中硬度较小的材料的硬度,N为插孔的簧片数量;

k2为温度应力下的反应常数,表示为:

其中,ΔE为激活能;kb为玻尔兹曼常数;T为温度;Λ为频率因子;

由于多孔径电连接器出厂后,体电阻和收缩电阻均已经确定,故为定值,则接触对的接触电阻r的表达式为:

步骤三、建立接触电阻退化率与温度之间的关系模型,具体如下:

将接触压力F代入式(4)中,接触电阻r简化为:

r=r0+αtq/3 (5)

其中,对多孔径电连接器进行加速退化寿命试验,得到不同时间的接触电阻r和接触电阻退化率α,进而拟合得到q,则接触电阻退化率α表示为:

将k2代入式(6)得:

步骤四、建立多孔径电连接器的接触可靠性模型,具体如下:

多孔径电连接器接触对的接触电阻r随着时间发生变化,则单个接触对的寿命为接触电阻达到失效阈值D的时间:

其中,r0为接触电阻的初值,参数β=q/3;

令对U取对数得lnU,lnU服从正态分布,因此,接触对接触电阻的退化率α服从对数正态分布LN(μα2),其中,μα和σ分别表示接触电阻退化率分布的对数均值和对数标准差;接触对的退化失效分布表达式为:

其中,P为接触对的失效概率;

设多孔径电连接器中有x组不同孔径的接触对,每组分别有ny个接触对,y=1,2,…,x,第y组的第u个接触对的寿命表示为则第y组接触对的寿命Ty表达式为:

设各接触对相互独立,故第y组接触对的寿命分布函数为:

多孔径电连接器的接触可靠性寿命分布函数为:

多孔径电连接器的接触可靠度为:

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