[发明专利]一种大规格千分尺测量面的研磨方法和装置

说明书

本发明公开了一种大规格千分尺测量面的研磨方法和装置，包括一研磨架和一大规格千分尺，所述研磨架包括连接部、左安装部和右安装部，所述左安装部和右安装部分别与连接部的左右两端固定连接和一体成型，所述左安装部上设有第一内孔，所述右安装部上设有第二内孔，所述第一内孔和第二内孔同轴分布，所述左安装部和右安装部之间的间距不超过300mm；本技术方案通过把大规格千分尺的第一测量面和第二测量面均转移到研磨架上，使得第一测量面和第二测量面之间的间距不超过300mm，实现用小规格的研磨棒就能对大规格千分尺的第一测量面和第二测量面进行研磨，减小了工作强度，提高工作效率，以及节约了研磨棒的成本。

技术领域

本发明涉及千分尺技术领域，尤其涉及一种大规格千分尺测量面的研磨方法和装置。

背景技术

外径千分尺也叫螺旋测微器，常简称为千分尺。它是比游标卡尺更精密的长度测量仪器，精度有0.01mm、0.02mm，0.05mm几种，加上估读的1位，可读取到小数点后第3位(千分位)，故称千分尺。

市面上的千分尺根据测量量程以及测砧安装方式的不同，以300mm为界限，可分为小规格千分尺和大规格千分尺；其中，小规格千分尺中的测砧是固定的，并且以25mm为一段量程来划分规格，并共有12种规格；而大规格千分尺中的测砧一般来说有四个安装位置，因此大规格千分尺一般是以100mm为一段量程来划分规格。

主要原因如下：

1)、对于小规格千分尺来说，每一种规格的千分尺都可以算作常用规格的千分尺，市场需求大，对于生产厂家来说，即使小规格千分尺可以通过测砧具有不同安装位置这一技术手段来减少千分尺的主体支架开模类型，但由于市场需求大，实际上的开模数量并没有减少，即生产成本并没有减少，而且后续的测砧的精确组装这一步骤难度较大并会花费较长时间，使得生产效率下降，因此，生产厂家对于每一种测量区间的千分尺的主体支架都是单独开模制造的；

2)、对于大规格千分尺来说，每一种规格的千分尺都是针对特定的需求去生产，市场需求小，而且在同一测量精度的要求下，大规格千分尺的主体支架制造难度要远远高于小规格千分尺的主体支架制造难度，这也是大规格千分尺的价格远高于小规格千分尺价格的原因，在这种背景下，生产厂家若依旧单独开模制造每一种测量区间的千分尺的主体支架，很有可能便会出现很多规格的千分尺的主体支架模具在一段时间内闲置浪费，因此，生产厂家往往通过测砧具有不同安装位置这一技术手段来降低整体的制造成本。

另外，千分尺作为机械行业使用非常频繁的量具之一，更是加工现场质量控制的一种重要工具；使用是非常频发的，而从关键、特殊过程质控点、工艺检测等主要用途的角度出发，需要对千分尺设置3个月、6个月、12个月的检定周期；因使用频繁，因此对两测量面的磨损比较大，每次检定时都需要对两个测量面进行研磨，而且因检定频繁，研磨的工作量也是非常的大。

按照现有的外径千分尺测量面的研磨方法，均是选择相应规格范围内的研磨棒，通过手工方法对测量面进行研磨，如对50-75mm规格的千分尺测量面进行研磨，将选择长度为50-75mm范围内的研磨棒对两端平面进行研磨。在研磨过程中，将反复利用平面平晶对平面的平面度进行检测，根据平面平晶的条纹来判断其平面度，同时用千分尺测量面平行度的专用检具，检测两平面的平行度，直到平面度和两测量面的平行度均满足外径千分尺检定规程的要求。

现有的研磨方法主要是通过研磨棒手工对千分尺两侧量面进行研磨，这样对小规格的外径千分尺两测量平面的平面度和平行度能很好的控制，而对大规格千分尺，因使用的研磨棒比较长、重，不但大大加大了人员的劳动强度，而且在研磨过程中很难控制外径千分尺两测量面与研磨棒两端面的受力点，不但影响了研磨棒两端面的精度，也导致外径千分尺两测量面的平面度和平行度很难达到检定规程的要求，可靠性比较差。

发明内容

为了解决上述问题，本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种大规格千分尺测量面的研磨方法和装置；通过该方法和装置可以很好的解决大规格千分尺研磨难的问题。