[发明专利]位置检测装置在审
申请号: | 202110372082.2 | 申请日: | 2021-04-07 |
公开(公告)号: | CN113514085A | 公开(公告)日: | 2021-10-19 |
发明(设计)人: | 村山智大 | 申请(专利权)人: | 德马吉森精机有限公司 |
主分类号: | G01D5/245 | 分类号: | G01D5/245 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;王娟娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位置 检测 装置 | ||
本发明提供一种提高位置检测精度的位置检测装置。位置检测装置包括绝对轨道,在绝对轨道记录有记录二进制序列,记录二进制序列基于位置检测二进制序列生成,在N为大于或等于2的整数时,无论从位置检测二进制序列提取哪N个连续项都不存在相同的序列;以及从绝对轨道读取记录二进制序列的绝对传感器单元,其中,记录二进制序列中包含的多个项由两个二进制值组成,当假设两个二进制值为1和0时,记录二进制序列是通过将位置检测二进制序列中包含的两个值中的一个值替换为10并将位置检测二进制序列中的另一个值替换为01而得到的序列。
本申请基于2020年4月9日提交的日本专利申请JP2020-070606并要求享受其优先权,该申请的公开内容通过引用而全部纳入本文。
技术领域
本发明涉及位置检测装置。
背景技术
在上述技术领域中,专利文献1公开了一种位置检测装置,该装置利用磁传感器读取基于非重复码记录在磁介质上的磁信号来检测位置。
[专利文献1]日本特开平01-079619号公报
发明内容
然而,根据上述文献中所描述的技术,非重复码有可能包括与检测头的长度相对应的多个“1”反复出现的部分,或者“0”和“1”交替出现的部分。因此,在使非重复码的一个项与一个方向的磁记录对应的方法中,会出现磁化翻转间隔很长的部分和磁化翻转间隔很短的部分。
在这种情况下,对绝对轨道(absolute track)所产生的磁信号的波形干扰是很明显的。为此,担心波形干扰下的磁信号对位置检测精度产生影响。
本发明的一个示例性方案提供了一种位置检测装置,包括:
绝对轨道,在绝对轨道记录有记录二进制序列,记录二进制序列基于位置检测二进制序列生成,在N为大于或等于2的整数时,无论从位置检测二进制序列提取哪N个连续项都不存在相同的序列;以及
绝对传感器单元,从绝对轨道读取记录二进制序列,
其中,记录二进制序列中包含的多个项由两个二进制值组成,当假设两个二进制值为1和0时,记录二进制序列是通过将位置检测二进制序列中包含的两个值中的一个值替换为10这两个值并将位置检测二进制序列中的另一个值替换为01这两个值而得到的序列
根据本发明,能够提供一种可确保足够的磁位置检测精度的位置检测装置。
附图说明
图1A是示出第一实施例的位置检测装置的布置的框图。
图1B是用于说明第一实施例的位置检测装置的效果的视图。
图2是用于说明第二实施例的位置检测装置的布置的框图。
图3A是用于说明第二实施例的位置检测装置的详细布置的框图。
图3B是示出第二实施例的位置检测装置的详细布置的框图。
图3C是示出第二实施例的位置检测装置的处理过程的流程图。
图4是用于说明第二实施例的位置检测装置的传感器布置的视图。
图5A是示出第三实施例的位置检测装置的详细布置的框图。
图5B是示出第四实施例的位置检测装置的详细布置的框图。
图5C是示出第二实施例的位置检测装置的处理过程的流程图。
具体实施方式
下面,将参照附图详细描述本发明的实施例。应当注意的是,除非另有特别说明,否则这些实施例中记载的构成要素的相对布置、数值表达式和数值并不限制本发明的范围。
【第一实施例】
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