[发明专利]一种基于透镜回波的评估超声探头轴向分辨率的方法及系统

说明书

本发明属于超声成像技术领域，具体涉及一种基于透镜回波的评估超声探头轴向分辨率的方法及系统，其中的方法包括以下步骤：S1、获取脉冲发射器生成的窄脉冲波形，并存储所述窄脉冲波形；S2、将窄脉冲波形作为发射波形，获取示波器采集的透镜回波，并记录透镜回波及超声探头的厂家；S3、对透镜回波进行包络，计算透镜回波峰值下降到一定幅度时所对应的时间，并得到透镜回波持续时间；根据持续时间判断是否需要更换超声探头；S4、将透镜回波持续时间最短所对应的超声探头的厂家作为同一类型轴向分辨率最高的超声探头的厂家；本发明能够实现对超声探头轴向分辨率的快速准确评估，操作简单，准确高效，评估结果更加客观准确。

技术领域

本发明属于超声成像技术领域，具体涉及一种基于透镜回波的评估超声探头轴向分辨率的方法及系统。

背景技术

目前，大多数超声探头与超声主机的生产是独立的，很多超声厂家需要外购超声探头。超声探头会直接影响图像质量，故超声探头的选择显得尤为重要，在众多超声探头生产厂家中挑选性能最佳的探头，需要综合评估各项指标，超声探头的轴向分辨率作为评估因素之一，亦是必不可少。

当前评估超声探头轴向分辨率的方法主要是利用靶点仿体，将探头置于仿体表面，通过肉眼评判不同厂家探头对应靶点位置轴向分辨率的高低。该种方法受制于操作者的手法，不可控因素较多，如探头的放置，主观因素影响较大。为此，有必要对其进行改进，以克服实际应用中的不足。

发明内容

基于现有技术中存在的上述缺点和不足，本发明的目的之一是至少解决现有技术中存在的上述问题之一或多个，换言之，本发明的目的之一是提供满足前述需求之一或多个的一种基于透镜回波的评估超声探头轴向分辨率的方法及系统。

为了达到上述发明目的，本发明采用以下技术方案：

一种基于透镜回波的评估超声探头轴向分辨率的方法，包括以下步骤：

S1、获取脉冲发射器生成的窄脉冲波形，并存储所述窄脉冲波形；

S2、将所述窄脉冲波形作为发射波形，获取示波器采集的透镜回波，并记录透镜回波及超声探头的厂家；

S3、对透镜回波进行包络，计算透镜回波峰值下降到一定幅度时所对应的时间，并得到透镜回波持续时间；根据持续时间判断是否需要更换超声探头的型号；若是，则执行步骤S1～S2；若否，则执行步骤S4；

S4、将所述透镜回波持续时间最短所对应的超声探头的厂家作为同一型号轴向分辨率最高的超声探头的厂家。

作为优选方案，所述步骤S1之前还包括：探头板与脉冲发射器连接，探头连接器安装于探头板中，探头连接器与超声探头连接，超声探头与示波器连接，所述超声探头置于空气中。

作为优选方案，所述步骤S2中获取示波器采集的透镜回波具体为获取示波器采集探头板上超声探头发射阵元对应通道的透镜回波。

作为优选方案，所述步骤S3中透镜回波持续时间为透镜回波峰值下降到一定幅度所对应的下限时刻T_d与上限时刻T_u的时间差，即持续时间T＝T_d-T_u。

作为优选方案，所述步骤S3中判断是否需要更换超声探头具体为判断不同厂家的超声探头所对应的透镜回波的持续时间是否最短；若否，则执行步骤S1～S2；若是，则执行步骤S4。

本发明还提供一种基于透镜回波的评估超声探头轴向分辨率的系统，包括：

获取模块，用于获取脉冲发射器生成的窄脉冲波形，并存储所述窄脉冲波形；

记录模块，用于将所述窄脉冲波形作为发射波形，获取示波器采集的透镜回波，并记录透镜回波及超声探头的厂家；