[发明专利]增强型辅助接口测试系统和方法

说明书

本申请提供了增强型辅助接口测试系统和方法。所呈现的实施例促进测试系统中对不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。所呈现的实施例促进测试系统中对不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，增强型辅助接口测试系统包括负载板、测试电子设备、控制器、和存储器映射接口。负载板被配置为与多个被测设备(DUT)耦合。测试电子设备被配置为测试该多个DUT，其中测试电子设备耦合到负载板。控制器被配置为引导对DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备。存储器映射接口被配置为实现多条路径，来访问控制器上的中央处理单元(CPU)并且使得能够并行测试多个DUT。

相关申请

本申请要求于2020年3月31日提交的题为“Enhanced Auxiliary Interface Testsystems and Methods(增强型辅助接口测试系统和方法)”(代理所案号ATSY-0086)的临时申请63/003,013的权益和优先权，该申请通过引用并入本文。

技术领域

本发明涉及电子测试领域。

背景技术

电子系统和设备对现代社会的进步做出了重大贡献，并促进了在各种商业、科学、教育和娱乐应用中的分析和传送信息方面的生产效率的提高和成本的降低。常规的测试系统和方法常常具有各种限制。

常规的CPU平台(例如，Intel x86架构平台等)通常在输入输出I/O空间上有限制。I/O空间限制继而限制了可以在同一接口上被并行测试的设备的数目。例如，位于PCIe交换机后面的UART设备通常不允许并行使用10或12个以上的设备。

发明内容

所呈现的实施例促进对测试系统中不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，一种增强型辅助接口测试系统包括负载板、测试电子设备、控制器、和存储器映射接口。负载板被配置为与多个被测设备(DUT)耦合。测试电子设备被配置为测试多个DUT，其中测试电子设备耦合到负载板。控制器被配置为引导对DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备。存储器映射接口被配置为实现多条路径，来访问控制器上的中央处理单元(CPU)并且使得能够并行测试多个DUT。

在一个实施例中，DUT是具有通用异步接收器-发送器(UART)UART接口的NVMe设备。DUT可以是PCIe非易失性存储器快速(NVMe)固态驱动器(SSD)。UART增强型辅助接口可被用于调试目的。PCIe NVMe设备可以具有通过PCIe的通用异步接收器-发送器(UART)辅助接口。该控制器能用于具有多功能设备的测试系统，这些多功能设备可以在针对每CPU具有多个DUT的环境中工作。存储器映射接口通过对FPGA、驱动和用户空间的修改来得到支持。存储器映射接口使得串行总线的数目能够增加到超过控制器的I/O空间地址的限制，这继而使得更多的设备能够至少部分并发或并行地被连接和测试。

在一个实施例中，一种增强型接口方法包括：将多个DUT耦合到负载板；测试耦合到负载板的多个DUT；配置多条路径，该多条路径用于访问CPU和并行测试多个DUT，其中所述配置利用灵活的增强型辅助接口；以及根据多条路径来引导对多个DUT的测试。在一个实施例中，DUT是具有通用异步接收器-发送器(UART)UART接口的NVMe设备。引导对多个DUT的测试包括引导调试操作。引导对多个DUT的测试包括提供具有多功能设备的测试系统，这些多功能设备可以在针对每CPU具有多个DUT的环境中工作。配置用于访问CPU的多条路径使得串行总线的数目能够增加到超过CPU的I/O空间地址的限制。在配置用于访问CPU的多条路径时，新颖的灵活存储器映射接口被利用，而不是受限I/O空间途径。DUT是非易失性存储器快速(NVMe)固态驱动器(SSD)。