[发明专利]一种OLED老化工装设计方法有效

专利信息
申请号: 202110339624.6 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN113011118B 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 王鑫鑫;严华宁;粘为进 申请(专利权)人: 无锡美科微电子技术有限公司
主分类号: G06F30/34 分类号: G06F30/34
代理公司: 合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 34158 代理人: 朱荣
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 oled 老化 工装 设计 方法
【说明书】:

发明公开了一种OLED老化工装设计方法。本发明中,进行老化测试单机版系统的设定,此时可以设定每个信号的参数包含信号名称、偏移时间、初始状态、前半周期时间、前半周期状态、后半周期时间、后半周期状态和周期;电源部分实现了每个电源的单独控制,并且结合所选芯片的特点设定对应的通讯协议及调整方式,在电压调整时也会参与判断对应的设定需求以便避免误操作的发生,从而增加了该测试工装操作时的电压稳定性;同时在信号软件开发中,针对时钟信号和数据信号做了对应的频率、占空比、初始值的调整设计,使得人们在操作该测试工装的时候,不在需要手动进行测时间和数据信号,从而减轻了人们的劳动负担,提高了该工作的便利性。

技术领域

本发明属于显示器生产技术领域,具体为一种OLED老化工装设计方法。

背景技术

OLED是一种利用多层有机薄膜结构产生电致发光的器件,它很容易制作,而且只需要低的驱动电压,这些主要的特征使得OLED在满足平面显示器的应用上显得非常突出。OLED显示屏比LCD更轻薄、亮度高、功耗低、响应快、清晰度高、柔性好、发光效率高,能满足消费者对显示技术的新需求。全球越来越多的显示器厂家纷纷投入研发,大大的推动了OLED的产业化进程,因此要经常对OLED进行老化测试。

但是由于OLED内部走线阻抗较大和测试电源电压不够稳定,就使得OLED的老化测试过程中电压容易出现波动的情况,同时老化测试过程中计时模块和数据信号多采用人工手动控制,导致了测试的结果容易出现较大误差。

发明内容

本发明的目的在于:为了解决上述提出的问题,提供一种OLED老化工装设计方法。

本发明采用的技术方案如下:一种OLED老化工装设计方法,所述OLED老化工装设计方法包括以下步骤:

S1:先进行老化测试主电源电路的设计,其中主电源采用数字电阻分压器AD5162提供不同的电阻,通过LM317和LM337进行电压转化;

S2:再进行老化测试子电源电路的设计,子电源电路设计和主电源的前段设计完全相同,差别在于主电源为了满足负载能力需求,在提供对应电压后经过运放把对应的负载能力提升到8A;

S3:进行老化测试时钟信号电路的设计,时钟信号电路使用的是FPGA板产生对应信号;通过并行总线将其有机结合在一起;

S4:进行老化测试数据信号电路的设计,同时钟信号相比,数据信号电路完全相同,但需要每一组信号单独调整,将芯片的数量对应增加到3个芯片;

S5:进行老化测试单机版系统的设定,此时设定每个信号的参数包含信号名称、偏移时间、初始状态、前半周期时间、前半周期状态、后半周期时间、后半周期状态和周期;

S6:进行步骤S5中的ARM模块的代码的编写,采用了模块化结构的方式编写,ARM模块上电以后,初始化延时时钟、UART1、UART2,UART3、LED、定时器、W25Q64等外围器件,确认当前PG的ID码;等待UART1接受命令,并且判断接受的命令是何种指令:“打开命令”,“关闭命令”,“更新配置命令”,“读取配置命令”;

S7:开始FPGA的代码流程设置,FPGA模块时钟等待UART1端STM32发送的数据;并判断所接受的命令;存储GIP命令时,将接收到的GIP数据保存到FPGA的寄存器中:打开命令时,FPGA根据寄存器中的GIP数据生成对应的GIP波形;

S8:老化测试电源控制器接受STM32发送的Power数据,得出需要产生的电压数值为多少;根据OP的放大系数,得出输入到OP的电压值;有数字电阻来调节对应的电压输出,输入到OP,产生真实的使用的电压;

S9:开始老化测试信号控制部分设计,FPGA根据接收的GIP数据产生的24路时钟信号和6路数据信号任意可变频率和占空比的方波;

S10:之后完成对波形的统计分析,就完成了整个老化工装的设计。

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