[发明专利]大规模子阵化数字阵列多通道同步采样系统在审
申请号: | 202110337915.1 | 申请日: | 2021-03-30 |
公开(公告)号: | CN115149950A | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
发明(设计)人: | 刘田;周文涛;曾富华;扈景召 | 申请(专利权)人: | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大规模 子阵化 数字 阵列 通道 同步 采样系统 | ||
1.一种大规模子阵化数字阵列多通道同步采样系统,包括:顺次串联的时频产生单元1、电光转换模块2、波分复用模块3和光传输设备4,光传输设备4分别连接的天线子阵N与天线子阵I,其特征在于:光传输设备4通过天线阵列N连接同步处理单元11,通过解波分复用模块5顺次连接光电转换模块6、时钟单元A7、时钟单元B8、时延测量单元9,多通道ADC/DAC单元10和同步处理单元11,时频产生设备1生成具备固定相位关系的时钟参考信号Clk_Ref与同步信号Sync,经电光转换模块2完成时钟参考信号Clk_Ref与同步信号Sync的电信号到光信号的转换,并经波分复用模块3将时钟参考信号Clk_Ref与同步信号Sync在同一根光纤中复用,通过光传输设备4将光纤信号拉远传输至大规模数字阵列前端不同的子阵内,天线子阵内通过解波分复用模块5与光电转换恢6复出时钟参考信号Clk_Ref与同步信号Sync,时钟单元A7将接收到的同步信号Sync分发至时钟单元B8与时延测量单元9直接对从天线下来的信号进行信号调理并数字化采样,时钟单元B8接收时钟参考信号Clk_Ref,并对同步信号Sync采样,产生内部同步信号,在时延测量单元9内实现外部和内部同步信号的时延测量,将测量结果反馈至同步处理单元11,将测量结果反馈至天线子阵N与天线子阵I,,通过时钟单元A7实现同步信号对外输出的时延调整,通过多时钟单元B8闭环并联回路的多次测量,选取时钟逻辑进行测量比较与调整时钟参考信号号Clk_Ref,对同步信号Sync进行稳定采样,最终将产生的内部同步信号Sync,采样时钟的采样数据分配传递给后端的分发至多通道ADC/DAC单元10,实现大规模数字阵列的多通道同步采样。
2.如权利要求1所述的大规模子阵化数字阵列多通道同步采样系统,其特征在于:时钟单元A7具备同步信号分发与输出时延调整功能,在单板中为ADC/DAC及其外部接口提供高精度的同步时钟,用于大规模分布式ADC/DAC的组阵。
3.如权利要求1所述的大规模子阵化数字阵列多通道同步采样系统,其特征在于:时频产生设备1生产的时钟参考信号(Clk_Ref)与同步信号(Sync)在时序上具备固定的相位关系,且重新上电后该相位关系不发生变化。
4.如权利要求1所述的大规模子阵化数字阵列多通道同步采样系统,其特征在于:ADC与DAC的采样时钟为Clk_Ref成整数倍关系。
5.如权利要求1所述的大规模子阵化数字阵列多通道同步采样系统,其特征在于:时钟单元A7完成外部Sync信号的分发,时钟单元B8基于外部Sync触发,实现Clk_Ref到内部Sync、ADC/DAC时钟产生,时延测量单元9实现内部Sync与外部Sync时延测量并通过同步处理单元11闭环反馈调整时钟单元A对Sync信号输出延时,保证了阵列前端不同子阵间Clk_ADC、Clk_DAC时钟采样不会出现模糊。
6.如权利要求1所述的大规模子阵化数字阵列多通道同步采样系统,其特征在于:大规模数字阵列每个天线子阵时频接口采用光纤接口,大规模天线阵面采用标准光纤接口与标准处理模块,适应不同规模的天线阵列。
7.如权利要求1所述的大规模子阵化数字阵列多通道同步采样系统,其特征在于:波分复用模块3基于波分复用技术,将时钟参考信号(Clk_Ref)与同步信号(Sync)复用至一根光纤传输到大规模数字阵列前端不同的子阵内,每个子阵仅需一根光纤。
8.如权利要求1所述的大规模子阵化数字阵列多通道同步采样系统,其特征在于:时频产生设备1产生时钟参考信号120MHz与同步信号(Sync),两者在时序上具备固定的相位关系;波分复用模块3基于波分复用技术,将时钟参考信号120MHz与Sync信号复用至一根光纤,经过光纤分发至100个天线子阵,每个子阵接收到的120MHz与Sync信号传输路径相同。
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