[发明专利]一种TOF测距系统在审

专利信息
申请号: 202110334472.0 申请日: 2021-03-29
公开(公告)号: CN113075679A 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 雷述宇 申请(专利权)人: 宁波飞芯电子科技有限公司
主分类号: G01S17/14 分类号: G01S17/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 315500 浙江省宁*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 tof 测距 系统
【权利要求书】:

1.一种TOF测距系统,其特征在于,所述TOF测距系统包括发射光源的VCSEL、接收反射光的传感器、参考面以及待测物体;所述接收反射光的传感器至少部分像素用来接收参考面的反射光信号。

2.如权利要求1所述的TOF测距系统,其特征在于,所述参考面为发射端光路内部部件。

3.如权利要求2所述的TOF测距系统,其特征在于,所述参考面为匀光片。

4.如权利要求2所述的TOF测距系统,其特征在于,所述参考面为DOE或发射光准直光学元件。

5.如权利要求1所述的TOF测距系统,其特征在于,所述参考面为配置于内封装之外的参考物。

6.如权利要求5所述的TOF测距系统,其特征在于,所述参考面为位于测距系统之外附加物体。

7.如权利要求1所述的TOF测距系统,其特征在于,所述接收反射光的传感器至少一个用来接收参考面的反射光信号。

8.如权利要求1所述的TOF测距系统,其特征在于,所述用于接收参考面反射光信号的像素距离VCSEL中心的距离为0.2mm~0.5mm。

9.如权利要求7所述的TOF测距系统,其特征在于,所述用于接收参考面反射光信号的传感器距离VCSEL中心的距离为0.2mm~0.5mm。

10.如权利要求5所述的TOF测距系统,其特征在于,所述参考面为配置于距离内封装1.7mm-2mm的参考物。

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