[发明专利]基于面元分布的动态匹配反射系数缩比测量方法和装置有效
申请号: | 202110325787.9 | 申请日: | 2021-03-26 |
公开(公告)号: | CN113030900B | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
发明(设计)人: | 曾旸;逢爽;杨琪;邓彬;王宏强 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人: | 邱轶 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 分布 动态 匹配 反射 系数 测量方法 装置 | ||
1.一种基于面元分布的动态匹配反射系数缩比测量方法,其特征在于,所述方法包括:
获取金属缩比模型的金属缩比模型RCS测量值和涂覆缩比模型的涂覆缩比模型RCS测量值;所述涂覆缩比模型是对所述金属缩比模型的表面进行了材料涂覆,所述涂覆缩比模型可为一个或多个,每个所述涂覆缩比模型的涂覆材料不同;
根据雷达入射波与所述涂覆缩比模型面元法向形成的夹角获取所述涂覆材料的第一反射系数信息;
将所述金属缩比模型RCS测量值、所述涂覆缩比模型RCS测量值和所述第一反射系数信息代入以下公式:
其中,表示第1…m-1个涂覆缩比模型的RCS测量值,表示雷达入射波的入射角;表示所述金属缩比模型RCS测量值;m表示面元的类别数;θj,j=1…m表示入射波与第j类面元的法向方向形成的夹角,Rk(θj),k=1…m-1,j=1…m表示入射波与第k个涂覆缩比模型第j类面元的法向方向形成的夹角为θj时的反射系数;表示面元法向为的所有面元复RCS的叠加;
求解得到所述金属缩比模型在所述入射波角度下的RCS面元分布信息
获取目标原型涂覆材料的第二反射系数信息,将所述第二反射系数信息、所述面元分布信息和预设的几何缩比因子,代入以下公式:
其中,表示所述目标原型的RCS值,Rprot(θj),j=1…m表示入射波与目标原型第j类面元的法向方向形成的夹角为θj时的反射系数,s为预设的几何缩比因子,根据公式计算结果得到所述目标原型的RCS值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取金属缩比模型的金属缩比模型RCS测量值和涂覆缩比模型的涂覆缩比模型RCS测量值;所述涂覆缩比模型是对所述金属缩比模型的表面进行了材料涂覆,所述涂覆缩比模型可为一个或多个,每个所述涂覆缩比模型的涂覆材料不同,包括:
获取金属缩比模型的金属缩比模型RCS测量值和涂覆缩比模型的涂覆缩比模型RCS测量值;所述涂覆缩比模型是对所述金属缩比模型的表面进行了材料涂覆,所述涂覆缩比模型的个数为面元的类别数减1,每个所述涂覆缩比模型的涂覆材料不同;所述面元根据法向方向分类,法向方向相同的面元为一类。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据雷达入射波与所述涂覆缩比模型面元法向形成的夹角获取所述涂覆材料的第一反射系数信息,包括:
根据雷达入射波与所述涂覆缩比模型面元法向形成的夹角获取所述涂覆材料的第一反射系数信息;所述第一反射系数信息随着雷达入射波与所述涂覆缩比模型的不同面元形成的夹角大小变化而变化。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,当所述涂覆缩比模型的面元分为两类时,根据所述金属缩比模型RCS测量值、所述涂覆缩比模型RCS测量值,以及所述第一反射系数信息,得到所述金属缩比模型在所述入射波角度下的RCS面元分布信息的步骤包括:
获取所述金属缩比模型RCS测量值、所述涂覆缩比模型RCS测量值,以及所述涂覆缩比模型的涂覆材料的第一反射系数信息;
将所述金属缩比模型RCS测量值、所述涂覆缩比模型RCS测量值和所述第一反射系数信息代入以下公式:
求解得到所述金属缩比模型在所述入射波角度下的RCS面元分布信息
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,当所述涂覆缩比模型的面元分为两类时,根据所述第二反射系数信息、所述面元分布信息和预设的几何缩比因子,得到所述目标原型的RCS值的步骤包括:
获取目标原型涂覆材料的第二反射系数信息;
将所述第二反射系数信息、所述面元分布信息和预设的几何缩比因子,代入以下公式:
根据公式计算结果得到所述目标原型的RCS值。
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