[发明专利]一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质

说明书

本申请公开了一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质，通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到待检测中压熔断器的阻抗‑频率曲线和阻抗角‑频率曲线，再根据待检测中压熔断器和标准中压熔断器的阻抗‑频率曲线、阻抗角‑频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，最终根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格。本申请解决了现有技术采用额定电流温升实验法进行熔断器质量检测，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大的技术问题。

技术领域

本申请涉及质量检测技术领域，尤其涉及一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质。

背景技术

中压熔断器作为中压配电系统中的保护装置，在中压配电系统中发挥着重要的作用。因此，需要对检测中压熔断器进行质量检测。现有技术采用额定电流温升实验法，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件(如实验室温度、湿度，通流的稳定性、熔断器两端底座的接触面积、接触压力等)的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大。

发明内容

本申请提供了一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质，用于解决现有技术采用额定电流温升实验法进行熔断器质量检测，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大的技术问题。

有鉴于此，本申请第一方面提供了一种中压熔断器质量检测方法，包括：

通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线；

根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，所述标准中压熔断器为与所述待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器；

根据所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数的大小判断所述待检测中压熔断器是否合格。

可选的，所述方法还包括：

根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线获取第一个阻抗极大值、该第一个阻抗极大值对应的第一频率、阻抗由容性转感性的转折频率以及该转折频率对应的阻抗极小值；

根据所述待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值、第一频率、转折频率和阻抗极小值确定所述待检测中压熔断器的内部情况。

可选的，所述根据所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数的大小判断所述待检测中压熔断器是否合格，包括：

若所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数均大于预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器合格；

若所述阻抗相似度系数或所述阻抗角相似度系数小于或等于所述预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器不合格。

可选的，所述阻抗分析仪扫描所述待检测中压熔断器的扫描频率范围为50Hz-120MHz。

本申请第二方面提供了一种中压熔断器质量检测装置，包括：

扫描单元，用于通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线；

计算单元，用于根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，所述标准中压熔断器为与所述待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器；

判断单元，用于根据所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数的大小判断所述待检测中压熔断器是否合格。