[发明专利]双配体材料提高CsPbIBr2 有效
申请号: | 202110312954.6 | 申请日: | 2021-03-24 |
公开(公告)号: | CN113299800B | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 徐飞;胡紫婷;李跃;王香;舒鑫;刘欣;徐闰;洪峰;马忠权;赵磊 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | H01L31/20 | 分类号: | H01L31/20;H01L31/032;H01L31/08 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双配体 材料 提高 cspbibr base sub | ||
1.一种双配体材料提高CsPbIBr2多晶膜质量以降低CsPbIBr2探测器暗电流的方法,其特征在于:通过在CsPbIBr2前驱体混合溶液中添加两种配体材料:卵磷脂和硫氰酸铵,在相对湿度不高于60%的大气环境下,制备出结构稳定、表面平整的CsPbIBr2多晶膜,并应用于紫外光电探测领域中,同时应用于X射线探测领域;
所述双配体材料提高CsPbIBr2多晶膜质量以降低CsPbIBr2探测器暗电流的方法,包括如下步骤:
(1)工艺环境选取:
控制大气环境相对湿度不高于60%;
(2)衬底预处理:
将氧化铟锡(ITO)导电玻璃衬底分别在丙酮、乙醇、去离子水中各超声清洗至少15min;然后使氧化铟锡衬底通过氮气吹干后,再进行紫外臭氧预处理至少15min,得到洁净的氧化铟锡衬底,备用;
(3)配体材料溶液制备:
取设定量卵磷脂溶解于无水乙醇中,室温搅拌至少5h后,待用,作为配体材料1;
将硫氰酸铵直接使用,无需进一步处理,作为配体材料2;
(4)CsPbIBr2前驱体混合溶液的制备:
(4-1)分别将1mol的PbBr2和1mol的CsI溶解在2.9mL和3.4mL的DMSO溶剂中,分别作为CsPbIBr2前驱体溶液1和CsPbIBr2前驱体溶液2;然后将CsPbIBr2前驱体溶液1和CsPbIBr2前驱体溶液2分别置于磁力搅拌器上,恒温下搅拌,直至完全溶解为澄清透明溶液;然后将CsPbIBr2前驱体溶液1和CsPbIBr2前驱体溶液2混合加入至少6.3mL的DMF中,恒温下搅拌至少4h,作为CsPbIBr2前驱体混合溶液1;
(4-2)取设定量的配体材料1加入CsPbIBr2前驱体混合溶液1中,在室温下搅拌至少12h,作为CsPbIBr2前驱体混合溶液2;
(4-3)然后取设定量的配体材料2加入CsPbIBr2前驱体混合溶液1,在室温下搅拌至少4h,作为CsPbIBr2前驱体混合溶液3;
(4-4)然后取设定量的CsPbIBr2前驱体混合溶液3加入CsPbIBr2前驱体混合溶液2,在室温下搅拌至少4h,作为CsPbIBr2前驱体混合溶液4;
(5)CsPbIBr2多晶膜的制备:
将在所述步骤(1)中处理完毕的氧化铟锡衬底置于预热的加热台上,使用喷涂机喷涂CsPbIBr2前驱体混合溶液4,制备出CsPbIBr2多晶膜;
根据CsPbIBr2多晶膜厚度和质量要求,设定使用前驱体混合溶液的剂量、喷涂机的喷涂速率和加热台的退火条件,实现在相对湿度不大于60%的大气环境下,制备结构稳定、表面平整的CsPbIBr2多晶膜。
2.根据权利要求1所述双配体材料提高CsPbIBr2多晶膜质量以降低CsPbIBr2探测器暗电流的方法,其特征在于:在所述步骤(3)中,配体材料1的浓度为5-30mg/mL。
3.根据权利要求1所述双配体材料提高CsPbIBr2多晶膜质量以降低CsPbIBr2探测器暗电流的方法,其特征在于:在所述步骤(4)中,配体材料1在CsPbIBr2前驱体混合溶液2中占总溶液体积的5-30%。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的