[发明专利]一种基于PID算法的温度控制方法、装置、设备及介质

说明书

本发明公开了一种基于PI D算法的温度控制方法、装置、设备及介质，方法包括：获取时间标志，当所述时间标志满足第一预设条件时，执行下一步骤；获取温控标志，当所述温控标志满足第二预设条件时，执行下一步骤；执行改良后的位置式PI D算法运算，得到PI D控制值；其中，所述改良后的位置式PI D算法包括预设的常量值；将所述PI D控制值作为新的输入温度，并返回执行获取时间标志和温控标志的步骤，实现温度控制。本发明能够提高温度控制的精度和稳定性，可广泛应用于温度控制技术领域。

技术领域

本发明涉及温度控制技术领域，尤其是一种基于PID算法的温度控制方法、装置、设备及介质。

背景技术

恒定温度的控制一直是医疗检验仪器设备的关键，但温度具有滞后性强、惯性大的特点，温度控制常常出现温度过冲高、温度波动频繁和温度误差大的现象。现在市场上针对温度的特点和温度控制的现象，所采用的控制算法多为增量式PID算法。

虽然现有技术中针对温度的特点和温度控制的现象，都有采用增量式PID算法进行温度控制，但还是存在一些不足或缺点：

1、现有技术方案的恒定温度控制的精度都是±0.5℃，在一些较严格要求的恒温仪器中，这个精度要求还不能满足需求。

2、现有技术方案都是使用增量式PID算法，增量式PID算法的缺点是恒温速度较慢、运算过程较复杂、温度稳定性较弱。

3、增量式PID算法本身的问题，增量式PID算法因没有积分作用，就没有了稳态控制，温度到达设置温度时会不受算法的控制，温度会易发生变化，因为温度的滞后性，导致温度频繁振荡。较于位置式PID算法，增量式PID算法的运算复杂度是位置式PID算法的一倍。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种基于PID算法的温度控制方法、装置、设备及介质，以提高温度控制的精度和稳定性。

本发明的一方面提供了一种基于PID算法的温度控制方法，包括：

获取时间标志，当所述时间标志满足第一预设条件时，执行下一步骤；

获取温控标志，当所述温控标志满足第二预设条件时，执行下一步骤；

执行改良后的位置式PID算法运算，得到PID控制值；其中，所述改良后的位置式PID算法包括预设的常量值；

将所述PID控制值作为新的输入温度，并返回执行获取时间标志和温控标志的步骤，实现温度控制。

可选地，获取时间标志，当所述时间标志满足第一预设条件时，执行下一步骤，包括：

判断所述时间标志是否满足温度采集的计算周期，若是，则执行获取温控标志，当所述温控标志满足第二预设条件时，获取输入温度值的步骤；反之，则返回执行获取时间标志的步骤。

可选地，所述获取温控标志，当所述温控标志满足第二预设条件时，执行下一步骤，包括：

获取温度内存的地址值；

根据所述温度内容的地址值，获取温控标志；

判断所述温控标志对应的温度值是否在设备正常工作的温度范围内，若是，则执行下一步骤；反之，则结束温度控制过程。

可选地，所述执行改良后的位置式PID算法运算，得到PID控制值，包括：

检测温度偏差信号；

根据所述温度偏差信号计算得到PID控制值；所述PID控制值用于控制被控单元；

所述PID控制值的计算公式为：