[发明专利]用于操作具有单磁道磁码对象的绝对测量位置检测系统的方法

权利要求书

1.一种用于操作绝对测量位置检测系统的方法，所述绝对测量位置检测系统具有传感器布置(100)和具有非重复码区域的单磁道磁码对象(105)，其中，所述传感器布置(100)由基本上线性布置的多个磁场传感器(110)形成，所述方法的特征在于，所述传感器布置(100)相对于相应码对象(105)的相对位置是通过搜索部分模式(710、720)确定的，所述部分模式(710、720)基于包含针对整个码对象(105)的传感器根据所述码对象(105)上的位置检测到的磁场矢量分量(500、505)的磁曲线变化或磁模式的参考数据与当前传感器检测到的部分模式(705、715)最类似。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在要比较的相应部分模式(705-720)之间搜索所述传感器布置(100)在所述码对象(105)上的所述相应部分模式之间的偏差形成最小值的位置。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述偏差形成为所述两个部分模式(705-720)之间的平方偏差。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述偏差形成为所述两个部分模式的对应值之间的差的绝对值之和。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述偏差借助于人工神经网络确定为由所述人工神经网络估计的所述两个部分模式的检测位置之间的距离的平方或绝对值。

6.如权利要求2至5中的一项所述的方法，其特征在于，针对所述整个码对象(105)查找要比较的所述部分模式(705-720)之间的所述偏差的最小值基于(相异性)类似性曲线(725)发生。

7.如前述权利要求中的一项所述的方法，其特征在于，在所述位置检测系统的操作期间，自动学习用作所述码对象(105)的参考数据的部分模式，所述部分模式一起描述磁场沿着所述单磁道码对象的路线。

8.如前述权利要求中的一项所述的方法，其特征在于，所述位置检测系统的自诊断是基于所确定的要比较的所述两个部分模式之间的类似性的质量值来执行的。

9.如前述权利要求中的一项所述的方法，其特征在于，在所述位置检测系统的操作期间，在对所述码对象(105)进行任何改变的情况下，则重新学习所学习的参考数据。

10.如前述权利要求中的一项所述的方法，其特征在于，所学习的参考数据包括至少两个传感器检测到的磁场矢量分量(500、505)的值和相应的相位信息(600)。

11.如前述权利要求中的一项所述的方法，其特征在于，所述参考数据被存储在参考表中或在参考图上。

12.如前述权利要求中的一项所述的方法，其特征在于，考虑到相位变化(600)，根据由传感器检测到的并且相对于彼此相位偏移的至少两个场矢量分量(500、505)生成对应的位模式。

13.如权利要求12所述的方法，其特征在于，由传感器检测到的至少两个相位偏移的场矢量分量(605、610)借助于线性积分变换尽可能好地进行与相位相关的匹配，以便由此生成对应的位模式。

14.一种绝对测量位置检测系统，其具有传感器布置(100)和具有非重复码区域的单磁道磁码对象(105)，其中，所述传感器布置(100)由基本上线性布置的多个磁场传感器(110)形成，所述绝对测量位置检测系统的特征在于，所述位置检测系统能根据前述权利要求中任一项所述的方法来操作。