[发明专利]一种基于探测器的高温目标检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于探测器的高温目标检测方法及装置，涉及红外热成像设备技术领域。其中，基于探测器的高温目标检测方法包括：当检测到探测器的像素输出值达到预设饱和值时，检测所述探测器内的像素；若检测到像素持续朝相同方向处于饱和状态时，所述像素为单向饱和像素；若检测到单向饱和像素，则对所述单向饱和像素执行偏移校正或者增益调整操作；若经过所述偏移校正或者增益调整操作后，所述探测器的像素输出值仍持续处于饱和状态，则启动保护机制。

技术领域

本申请涉及红外热成像设备技术领域，具体涉及一种基于探测器的高温目标检测方法及装置。

背景技术

红外热成像设备在使用过程中，如果长时间面对极高温的物体(如太阳)，将会导致红外探测器被高温灼伤，进而导致设备的材料发生相变，产生无法恢复的坏点、坏块、图像伪影等影响，进而使得设备无法再正常使用。

针对上述问题，现有的主要解决思路是：通过一定手段检测红外设备是否正在面对极高温的物体，再通过滤光、遮挡等手段对红外设备进行保护；除此之外也有通过改良探测器MEMS(Microelectro Mechanical Systems，微机电系统)结构散热，防止其被高温烧毁，但这种方法会增加MEMS的结构复杂度，影响探测器生产的良率、灵敏度等。现有的检测手段主要有：检测输出是否饱和，但实际使用中会存在一些使得输出饱和却不至于灼伤探测器的情况，因此检测饱和的手段存在虚警的风险；除此之外也有图像算法检测，在图像中识别到如太阳之类的圆形目标后触发保护，但这种方法增加了后端算法的复杂度。因此亟需一种基于探测器层面的高温目标检测方法。

发明内容

针对现有技术中的上述技术问题，本申请实施例提出了一种基于探测器的高温目标检测方法及装置，以解决现有技术中存在的检测手段存在虚警风险、对后端算法要求高等问题。

本申请实施例的第一方面提供了一种基于探测器的高温目标检测方法，包括：

当检测到探测器的像素输出值达到预设饱和值时，检测所述探测器内的像素；

若检测到像素持续朝相同方向处于饱和状态时，所述像素为单向饱和像素；

若检测到单向饱和像素，则对所述单向饱和像素执行偏移校正或者增益调整操作；

若经过所述偏移校正或者增益调整操作后，所述探测器的像素输出值仍持续处于饱和状态，则启动保护机制。

在一些实施例中，所述执行像素偏移校正，具体包括：通过单独调节所述单向饱和像素的偏移值来调整所述探测器的像素输出值。

在一些实施例中，所述方法具体包括：通过调节施加在所述单向饱和像素上的偏压或者电流调节所述单向饱和像素的偏移值。

在一些实施例中，所述执行增益调整操作，具体包括：通过单独调节所述单向饱和像素输出时的增益来调整所述探测器的像素输出值。

在一些实施例中，所述方法具体包括：将所述单向饱和像素输出时的增益值降低为典型值的一部分。

在一些实施例中，所述保护机制具体包括：启动挡片保护、转头、滤光中的一种或多种。

在一些实施例中，所述方法还包括：经过预设保护时间后，解除所述保护机制。

在一些实施例中，所述方法还包括：启动过饱和判断，若探测器的像素输出值仍持续处于过饱和状态，延长所述保护时间。

在一些实施例中，启动过饱和判断具体包括：通过执行偏移校正或者增益调整操作后，继续判断所述探测器的像素饱和程度，若是高饱和程度则是过饱和状态；若是低饱和程度则不是过饱和状态。

本申请实施例的第二方面提供了一种基于探测器的高温目标检测装置，包括：

像素检测模块，用于当检测到探测器的像素输出值达到预设饱和值时，检测探测器内的像素；