[发明专利]一种基于探测器的高温目标检测方法及装置

权利要求书

1.一种基于探测器的高温目标检测方法，其特征在于，包括：

当检测到探测器的像素输出值达到预设饱和值时，检测所述探测器内的像素；

若检测到像素持续朝相同方向处于饱和状态时，所述像素为单向饱和像素；

若检测到单向饱和像素，则对所述单向饱和像素执行偏移校正或者增益调整操作，其中，对所述单向饱和像素执行增益调整操作包括：

通过单独调节所述单向饱和像素输出时的增益来调整所述探测器的像素输出值，其中，所述通过单独调节所述单向饱和像素输出时的增益来调整所述探测器的像素输出值，包括：将所述单向饱和像素输出时的增益值降低为典型值的一部分；若经过所述偏移校正或者增益调整操作后，所述探测器的像素输出值仍持续处于饱和状态，则启动保护机制；

对所述单向饱和像素执行偏移校正，具体包括：通过单独向下调节所述单向饱和像素的偏移值来调整所述探测器的像素输出值；

具体包括：通过调节施加在所述单向饱和像素上的偏压或者电流调节所述单向饱和像素的偏移值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述保护机制具体包括：启动挡片保护、转头、滤光中的一种或多种。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：经过预设保护时间后，解除所述保护机制。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：启动过饱和判断，若探测器的像素输出值仍持续处于过饱和状态，延长所述保护时间。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，启动过饱和判断具体包括：通过执行偏移校正或者增益调整操作后，继续判断所述探测器的像素饱和程度，若是高饱和程度则是过饱和状态；若是低饱和程度则不是过饱和状态。

6.一种基于探测器的高温目标检测装置，其特征在于，包括：

像素检测模块，用于当检测到探测器的像素输出值达到预设饱和值时，检测探测器内的像素；

单向像素检测模块，若检测到像素持续朝相同方向处于饱和状态时，所述像素为单向饱和像素；

单向饱和像素检测模块，若检测到单向饱和像素时，则对所述单向饱和像素执行偏移校正或者增益调整操作，其中，对所述单向饱和像素执行增益调整操作包括：

通过单独调节所述单向饱和像素输出时的增益来调整所述探测器的像素输出值，其中，所述通过单独调节所述单向饱和像素输出时的增益来调整所述探测器的像素输出值，包括：将所述单向饱和像素输出时的增益值降低为典型值的一部分；

对所述单向饱和像素执行偏移校正，具体包括：通过单独向下调节所述单向饱和像素的偏移值来调整所述探测器的像素输出值；

具体包括：通过调节施加在所述单向饱和像素上的偏压或者电流调节所述单向饱和像素的偏移值；

保护机制启动模块，用于若经过所述偏移校正或者增益调整操作后，所述探测器的像素输出值仍持续处于饱和状态，则启动保护机制。