[发明专利]一种判断线残风险的方法

权利要求书

1.一种判断待测材料线残风险的方法，其特征在于，所述方法包括：

将所述待测材料设置在基板之间以形成待测液晶盒；

判断所述待测液晶盒的初始线残风险；

若无初始线残风险，则对所述待测液晶盒进行配向处理，并对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述待测材料的第一电压保持率和第一离子浓度；以及

对所述待测液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述待测材料的第二电压保持率和第二离子浓度；

根据所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差异程度和/或所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差异程度，判断所述待测材料的线残风险。

2.如权利要求1所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述待测材料为液晶材料，所述液晶材料夹设在所述待测液晶盒的基板之间。

3.如权利要求1所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述待测材料为配向材料，所述配向材料设置在所述待测液晶盒的基板与液晶层之间。

4.如权利要求1所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述判断所述待测材料的线残风险的步骤包括：

获取所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值；

获取所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值；

若所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值大于5％；和/或

若所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值大于5％，且所述第二离子浓度大于500pC，则所述待测材料存在线残风险。

5.如权利要求1所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述判断所述待测液晶盒的初始线残风险的步骤包括：

对所述待测材料进行电压保持率测试和离子浓度测试，并获取所述待测材料的初始电压保持率和初始离子浓度；

若所述待测材料的初始电压保持率小于80％和/或所述初始离子浓度大于1000pC，则所述待测材料存在初始线残风险。

6.如权利要求2所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述方法还包括：

提供一标准液晶盒，所述标准液晶盒包括位于基板之间的合格液晶材料；

对所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述合格液晶材料的第三电压保持率和第三离子浓度；以及

对所述标准液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述合格液晶材料的第四电压保持率和第四离子浓度；

若所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度大于2％；和/或

所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度大于50pc，则所述待测材料存在线残风险。

7.如权利要求3所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述方法还包括：

提供一标准液晶盒，所述标准液晶盒包括位于基板之间的合格配向材料；

对所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述合格配向材料的第五电压保持率和第五离子浓度；以及

对所述标准液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述合格配向材料的第六电压保持率和第六离子浓度；

若所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格配向材料的第五电压保持率和第六电压保持率的差异程度大于2％；和/或

所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格配向材料的第五离子浓度和第六离子浓度的差异程度大于50pc，则所述待测材料存在线残风险。

8.如权利要求6或7所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述对所述标准液晶盒进行老化处理的温度和时间与对所述待测液晶盒进行老化处理的温度和时间相同。