[发明专利]一种基于单片机设计的微欧电阻测试模块

说明书

本发明公开了一种基于单片机设计的微欧电阻测试模块，属于电阻测试技术领域，包括一个电压转换电路和一个analog电路，接通电压转换电路和analog电路，模块的内部自动产生三个档位的恒流源，电流在analog电路中流经被测电阻时，在电阻两端形成电压值，所述的analog电路中还包括24位ADC，即24位模数转换器、MCU微控制器、LCD显示屏以及RS485/232接口。该基于单片机设计的微欧电阻测试模块，体积较小，操作简单，使用方便，可以精准的测量微欧级电阻，对一些稀有材质阻值测试有着重要意义，同时，可以在LCD显示屏上直观显示测试结果，还可以通过串口在其他设备上做二次开发。

技术领域

本发明属于电阻测试技术领域，具体为一种基于单片机设计的微欧电阻测试模块。

背景技术

现代的电子产品对功能和性能都有极高的要求，一些特殊材质的导通阻值要求更小，如果使用常规加压求流测量电阻的方法，测试精度太差，也无法测量微欧级别的电阻。使用微欧级测量仪表，一般体积较大，只适用于实验室测试，不能灵活应用到我们实际的测试环境中。针对微欧级电阻的测量，现在市面上使用的都是测量型仪器仪表，体积大，不方便我们在实际测试的使用。

现有技术中，市面上现在使用微欧测量仪表，采用开尔文4线法，通过恒流源的方式，检测被测物两端的电压。从而计算其阻值，该测量方法，精度高，可以测量出微欧级别电阻。但是这种仪表一般体积较大，使用不方便，也不利于我们在测量系统中做二次开发。

为此，我们需要开发一种微欧电阻测试模块，具备体积小，方便使用的优点，并可以在测试系统中进行二次开发。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供了一种基于单片机设计的微欧电阻测试模块，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种基于单片机设计的微欧电阻测试模块，包括一个电压转换电路和一个analog电路，接通电压转换电路和analog电路，模块的内部自动产生三个档位的恒流源，电流在analog电路中流经被测电阻时，在电阻两端形成电压值，所述的analog电路中还包括24位ADC，即24位模数转换器、MCU微控制器、LCD显示屏以及RS485/232接口。

进一步优化本技术方案，所述电阻测试的方式选择开尔文四线连接方式，通过恒流源进行微欧电阻的测量。

进一步优化本技术方案，所述的微欧电阻测试模块外挂有一个UART口，所述MCU微控制器通过UART口与核心板扩展的RS485/232接口进行接口通信。

进一步优化本技术方案，所述analog电路中还配置有低噪声，高共模抑制比的仪表运放，用于对电压进行放大。

进一步优化本技术方案，所述LCD显示屏选用型号为LCD12864的LCD显示屏，具有4位/8位并行、2线或3线串行多种接口方式，显示分辨率为128×64,内置8192个16*16点汉字，和128个16*8点ASCII字符集。

进一步优化本技术方案，所述的微欧电阻测试模块的参数包括：工作电压电流：12V1A；测范围量：1uR-2K；恒流源电流：10uA-1A共6个量程；分辨率：1uR；测量精度：20欧以内±1％，20欧-2K可以达到0.1％。

进一步优化本技术方案，所述模块内部自动产生的三个档位的恒流源分别为UA级别恒流源、MA级别恒流源以及A级别恒流源。

进一步优化本技术方案，所述MCU微控制器为STARM32位Cortex-M3单片机，最高工作频率72MHz，单周期乘法和除法器，内部SRAM64K字节，具有2路I2C接口，支持SMBus/PMBus。

进一步优化本技术方案，所述的微欧电阻测试模块经24位ADC采集后，将电压数据传递至MUC控制器中，由MUC控制器提供调试指令。