[发明专利]一种红外焦平面探测器闪元测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种红外焦平面探测器闪元测试方法，其特征在于包括：

(1)准备测试装置

所述测试装置主要由黑体辐射源、探测器、低噪声电子学驱动电路、数据采集卡及计算机组成；所述数据采集卡安装于计算机内部，通过数据线与低噪声电子学驱动电路连接；所述低噪声电子学驱动电路与被测的探测器通过测试接口连接；所述黑体辐射源置于探测器的窗口前面，靠近窗口但不接触，保证黑体辐射源的黑体面充满探测器的视场；所述低噪声电子学驱动电路提供探测器工作时所需要的偏压及时钟信号，并对探测器的模拟输出信号电压进行缓冲驱动处理及A/D转换，通过数据线将探A/D转换后的数字输出信号传输至计算机中的数据采集卡；

通过液氮或制冷机对被测的探 测器进行降温，达到探测器的工作温度后，打开低噪声电子学驱动电路板的电源开关；

设置探测器的主要工作条件，包括时钟、积分时间、偏置电压，使探测器正常工作；

(2)正式测试步骤包括：

步骤1，根据探测器的使用条件设置黑体温度为T_C1、T_C2，按GB/T 17444-2013常规测试方法对探测器进行响应率、输出信号电压、探测率、噪声等效温差、噪声参数测试；

步骤2，按规定的盲元判据统计出探测器的盲元数N_d，并记录盲元位置；

步骤3，设置需要进行闪元测试的黑体温度点T_C，对探测器输出信号值进行单点非均匀性校正；

步骤4，连续采集F帧数据；

步骤5，计算或规定阀值σ；

步骤6，剔除盲元后，对每一单帧进行判定，统计像元输出信号值与单帧输出信号平均值的绝对值超过规定阀值σ的像元，标志并记录位置；

步骤7，所述采集的F帧数据判定完成后，统计每个像元超过规定阀值的次数X，所述次数X超过规定次数要求C的像元即为闪元。

2.根据权利要求 1所述的闪元测试方法，其特征在于，在所述步骤2与步骤3之间还包括对探测器进行两点非均匀性校正步骤，具体为：保持测试条件不变，通过对黑体温度T_C1、T_C2采集到的数据对探测器进行两点非均匀性校正。

3.根据权利要求 2所述的闪元测试方法，其特征在于，所述对探测器进行两点非均匀性校正的方法如下：

采集黑体温度T_C1、T_C2两个温度点下探测器像元输出信号值，其中任一像元(i,j)在T_C1、T_C2两个温度点下的输出信号值为V_C1(i,j)、V_C2(i,j)；

在两个温度点下剔除盲元后其余所有像元输出信号平均值按式(1)、式(2)计算：

式中M为像元的总列数、N为像元总行数，N_d为探测器的盲元数；

像元(i,j)的两点非均匀性校正系数k(i,j)、b(i,j)由式(3)、式(4)计算：

对于需要进行闪元测试的黑体温度T_C，实际采集到的输出信号值为V_C(i,j)，经两点非均匀性校正后的输出信号值Vc'(i,j)由式(5)计算：

V_C’(i,j)＝k(i,j)×V_C(i,j)+b(i,j) (5)。

4.根据权利要求 1至3任一项所述的闪元测试方法，其特征在于，在步骤3中，所述单点非均匀性校正方法为：

在剔除盲元后，计算其余任一像元(i，j)输出信号值与所有像元输出信号平均值的差为B(i,j)，单点非均匀性校正后像元(i,j)的输出信号值V_NUC(i,j)为无两点校的式(6)或两点校后的式(7)：

V_NUC(i,j)＝V_C(i,j)-B(i,j) (6)

V_NUC(i,j)＝V_C’(i,j)-B(i,j) (7)。