[发明专利]探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质

说明书

本申请涉及一种探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质，其中，该探测器参数配置方法包括：获取探测器参数的多个第一参数值；根据多个第一参数值进行扫描，并根据多个第一参数值及对应的扫描数据确定探测器参数的参数值曲线；根据参数值曲线确定探测器参数的第二参数值，将第二参数值作为探测器配置参数。通过本申请，解决了相关技术中基于人工实现探测器参数的配置效率较低的问题，提高了医学成像扫描系统中探测器的参数配置效率，降低了探测器参数配置成本。

技术领域

本申请涉及医疗设备技术领域，特别是涉及探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质。

背景技术

医学成像扫描系统一般由千个或万个基本的探测器感光元件构成，由于加工精度、生产批次等因素的影响，每个探测器元件的物理性能存在不可避免的波动。因此，在使用医学成像扫描系统之前，需要对医学成像扫描系统中的探测器参数配置进行统一化处理，通常情况下，依靠探测器元件本身物理性能的一致性对探测器参数进行配置。对于一致性较好的探测器元件，探测器参数可以满足医学成像扫描系统的基本工作需要，然而，探测器元件的物理性能不可避免地存在不一致，因此即使部分探测器元件存在继续优化调参的可能性，却无法进一步进行优化调整。

在相关技术中，通过人工对每个探测器的参数进行配置，使得每个探测器的物理性能达到最优，最终可以使整个医学成像扫描系统达到最佳物理性能。然而，基于人工实现探测器参数的配置，效率较低，时间成本较高。

目前针对相关技术中基于人工实现探测器参数的配置效率较低的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质，以至少解决相关技术中基于人工实现探测器参数的配置效率较低的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种探测器参数配置方法，包括：

获取探测器参数的多个第一参数值；

根据多个所述第一参数值进行扫描，并根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线；

根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值，将所述第二参数值作为探测器配置参数。

在其中一些实施例中，所述根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线包括：

根据扫描数据获得与第一参数值对应的至少一个物理量，其中，所述物理量用于表征所述探测器的物理性能；

确定反映所述物理量与第一参数值对应关系的参数值曲线。

在其中一些实施例中，所述根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值包括：

根据所述参数值曲线计算曲线波动参数；

根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值，其中，探测器在所述第二参数值处的物理量在预设范围内。

在其中一些实施例中，所述根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值包括：

在所述曲线波动参数小于或者等于波动阈值的情况下，在与所述物理量对应的参数值中选择所述第二参数值。

在其中一些实施例中，在与所述物理量对应的参数值中选择所述第二参数值之前，所述方法包括：

在所述曲线波动参数大于所述波动阈值的情况下，对所述第一参数值进行更新；

根据更新后的第一参数值进行扫描，并根据更新后的第一参数值及对应的扫描结果确定所述探测器参数的参数值曲线，直到所述曲线波动参数小于或者等于所述波动阈值。