[发明专利]一种固定宽度的单位方块电阻建模方法在审
申请号: | 202110274611.5 | 申请日: | 2021-03-15 |
公开(公告)号: | CN112966387A | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 刘素吉;王伟 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F111/10 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 周耀君 |
地址: | 201315*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 固定 宽度 单位 方块 电阻 建模 方法 | ||
1.一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于:所述建模方法根据实际测试数据分析方块数与方块电阻的关系,进而得到具体的电阻模型公式以调节电阻模型,从而得到最终的电阻模型。
2.如权利要求1所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于,所述建模方法包括如下步骤:
步骤S1,基于实际测试数据,提取同类型相同宽度不同方块数的方块电阻;
步骤S2,根据得到的方块数与方块电阻的关系进行分析和拟合,找到固定宽度下方块电阻随方块数变化的趋势线,则可得到固定宽度下方块电阻与方块数的关系式;
步骤S3,将所得的方块电阻与方块数的关系式添加到电阻计算公式中,调节公式中的相关电阻模型参数,得到最终模型。
3.如权利要求2所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于,于步骤S1之前,所述方法还包括:
利用WAT测试不同类型不同尺寸的电阻数据,获得若干实际测试数据。
4.如权利要求3所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于:所述实际测试数据包括各方块电阻的方块电阻值。
5.如权利要求4所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于:于步骤S3中,精确调节新方块电阻系数RshN、实际方块电阻长度方向偏移量DL、实际方块电阻度方向偏移量DW。
6.如权利要求5所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于:于步骤S3中,调节新方块电阻系数RshN、实际方块电阻长度方向偏移量DL、实际方块电阻度方向偏移量DW,使模型的单位方块电阻值与WAT方块电阻系数测试值的差值调至最小。
7.如权利要求6所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于,于步骤S3后,还包括如下步骤:
步骤S4,对构建的电阻模型进行校验。
8.如权利要求7所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于,步骤S4进一步包括:
首先,固定宽度width,仿真得到方块电阻值随长度变化的曲线;
对宽度方向的验证完成之后,再固定方块数N,仿真得到方块电阻值随宽度变化的曲线。
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