[发明专利]一种固定宽度的单位方块电阻建模方法在审

专利信息
申请号: 202110274611.5 申请日: 2021-03-15
公开(公告)号: CN112966387A 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 刘素吉;王伟 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F111/10
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 周耀君
地址: 201315*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 固定 宽度 单位 方块 电阻 建模 方法
【权利要求书】:

1.一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于:所述建模方法根据实际测试数据分析方块数与方块电阻的关系,进而得到具体的电阻模型公式以调节电阻模型,从而得到最终的电阻模型。

2.如权利要求1所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于,所述建模方法包括如下步骤:

步骤S1,基于实际测试数据,提取同类型相同宽度不同方块数的方块电阻;

步骤S2,根据得到的方块数与方块电阻的关系进行分析和拟合,找到固定宽度下方块电阻随方块数变化的趋势线,则可得到固定宽度下方块电阻与方块数的关系式;

步骤S3,将所得的方块电阻与方块数的关系式添加到电阻计算公式中,调节公式中的相关电阻模型参数,得到最终模型。

3.如权利要求2所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于,于步骤S1之前,所述方法还包括:

利用WAT测试不同类型不同尺寸的电阻数据,获得若干实际测试数据。

4.如权利要求3所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于:所述实际测试数据包括各方块电阻的方块电阻值。

5.如权利要求4所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于:于步骤S3中,精确调节新方块电阻系数RshN、实际方块电阻长度方向偏移量DL、实际方块电阻度方向偏移量DW。

6.如权利要求5所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于:于步骤S3中,调节新方块电阻系数RshN、实际方块电阻长度方向偏移量DL、实际方块电阻度方向偏移量DW,使模型的单位方块电阻值与WAT方块电阻系数测试值的差值调至最小。

7.如权利要求6所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于,于步骤S3后,还包括如下步骤:

步骤S4,对构建的电阻模型进行校验。

8.如权利要求7所述的一种固定宽度的单位方块电阻建模方法,其特征在于,步骤S4进一步包括:

首先,固定宽度width,仿真得到方块电阻值随长度变化的曲线;

对宽度方向的验证完成之后,再固定方块数N,仿真得到方块电阻值随宽度变化的曲线。

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