[发明专利]位姿优化方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 202110263263.1 | 申请日: | 2021-03-11 |
公开(公告)号: | CN113048980B | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 章国锋;鲍虎军;周鑫;刘浩敏;鲍冲 | 申请(专利权)人: | 浙江商汤科技开发有限公司 |
主分类号: | G01C21/20 | 分类号: | G01C21/20;G01C11/04 |
代理公司: | 北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889 | 代理人: | 吴迪 |
地址: | 311215 浙江省杭州市萧*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 优化 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种位姿优化方法,其特征在于,包括:
基于移动设备拍摄的现实场景图像,确定所述移动设备的当前预测位姿;
基于所述当前预测位姿、所述现实场景图像的特征点,以及预先构建的多个参考平面,确定所述特征点的目标深度信息,其中,所述多个参考平面为预先构建的用于表征现实场景的三维场景地图中的多个参考平面,且所述三维场景地图中与所述图像的特征点对应的三维特征点位于所述参考平面上;
根据所述目标深度信息优化所述当前预测位姿。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述当前预测位姿、所述现实场景图像的特征点,以及预先构建的多个参考平面,确定所述特征点的目标深度信息,包括:
基于所述当前预测位姿、所述特征点在图像坐标系下的二维坐标信息,以及所述多个参考平面中的每个参考平面对应的几何方程,确定所述特征点的目标深度信息。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述当前预测位姿、所述特征点在图像坐标系下的二维坐标信息,以及所述多个参考平面中的每个参考平面对应的几何方程,确定所述特征点的目标深度信息,包括:
基于所述当前预测位姿、所述二维坐标信息,以及所述移动设备中的图像采集部件的内部参数信息,确定所述特征点所对应的三维特征点在世界坐标系下的三维坐标信息;
根据所述三维坐标信息,以及所述每个参考平面对应的几何方程,确定所述特征点的目标深度信息。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述每个参考平面内包括有界区域;
所述根据所述三维坐标信息,以及所述每个参考平面对应的几何方程,确定所述特征点的目标深度信息,包括:
基于所述三维坐标信息,以及每一所述参考平面对应的几何方程分别确定所述特征点的初始深度信息;
判断所述三维特征点是否位于每一所述初始深度信息所对应的参考平面的所述有界区域内;
在所述三维特征点位于所述初始深度信息所对应的参考平面的所述有界区域内的情况下,确定所述初始深度信息为所述目标深度信息。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在所述三维特征点位于所述初始深度信息所对应的参考平面的所述有界区域内的情况下,确定所述初始深度信息为所述目标深度信息,包括:
在所述三维特征点位于多个所述初始深度信息分别对应的参考平面的所述有界区域内的情况下,确定最小的所述初始深度信息为所述目标深度信息。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述三维坐标信息,以及所述每个参考平面对应的几何方程,确定所述特征点的目标深度信息,包括:
在所述多个参考平面与地面分别垂直的情况下,确定每个所述参考平面在预设视角下所形成的参考直线;
根据所述三维坐标信息,以及每个所述参考直线对应的几何方程,确定所述特征点的目标深度信息。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述参考直线包括线段;
所述根据所述三维坐标信息,以及每个所述参考直线对应的几何方程,确定所述特征点的目标深度信息,包括:
在所述三维特征点落于每一所述参考直线的情况下,基于所述三维坐标信息,以及每一所述参考直线的几何方程分别确定所述特征点的初始深度信息;
判断所述三维特征点是否位于所述初始深度信息所对应的参考直线上的线段上;
在所述三维特征点位于所述初始深度信息对应的参考直线上的线段的情况下,确定所述初始深度信息为所述目标深度信息。
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