[发明专利]一种GIS内壳体尖刺模拟装置及方法

说明书

本发明公开了一种GIS内壳体尖刺模拟装置与方法，装置包括：GIS壳体、法兰、法兰盖、设置有至少两个通孔的轮盘、至少两个调节杆、至少两个针电极夹座、至少两个针电极；其中，GIS壳体外部设置有供所述针电极进行更换的开口，围绕所述开口位置设置朝向GIS壳体外部的法兰，法兰与法兰盖配合形成气密结构；法兰盖中心设置有圆孔，圆孔内设置有轮盘，法兰盖、轮盘和调节杆配合形成气密结构；调节杆底端分别通过通孔伸入所述气密结构中，并与针电极夹座的顶端连接；针电极夹座的底端与针电极连接，针电极的针尖通过开口伸入GIS壳体内，解决了在实验腔体关闭状态下更换针电极的问题，提高了实验效率和设备可靠性，降低SF₆泄露的概率。

技术领域

本发明涉及气体绝缘封闭组合电器(GIS)绝缘测试技术领域，尤其是涉及一种GIS内壳体尖刺模拟装置及方法。

背景技术

气体绝缘封闭组合电器(Gas Insulated Switchgear，GIS)内以一定压力的SF₆气体作为绝缘介质，具有绝缘性能优异、体积小、运行安全可靠等优点，在国内外电力系统中得到了广泛应用。由于SF₆气体在电场均匀性较好时才具有较强的绝缘性能，因此工程上常将GIS设计为同轴圆柱结构，保持内部电场的均匀性。由于不良加工、机械破坏或组装时刮擦常引起金属尖刺，出现壳体尖刺绝缘缺陷，引起电场畸变使得局部电场过高，造成SF₆气体绝缘性能大幅下降。因此，有必要设计一种能够真实模拟GIS内壳体尖刺的缺陷装置及方法，以研究GIS内壳体尖刺放电的情况。

现有技术用针板电极模拟GIS内壳体尖刺的缺陷，在实验过程中针电极易出现电弧烧蚀，引起针电极表面状态的改变，造成实验结果的不准确性，因此现阶段研究GIS内壳体尖刺放电的缺陷装置均需在一定实验次数后打开实验腔体更换针电极，使得实验的操作效率低，同时实验腔体的多次打开和关闭将影响设备可靠性，且会造成SF₆气体泄露概率增大。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提供一种GIS内壳体尖刺模拟装置及方法，解决在实验腔体关闭状态下更换针电极的问题，提高了实验效率和设备的可靠性，同时降低SF6气体泄露的概率。

为解决以上的技术问题，本发明实施例提供一种GIS内壳体尖刺模拟装置，包括：GIS壳体、法兰、法兰盖、设置有至少两个通孔的轮盘、至少两个调节杆、至少两个针电极夹座、至少两个针电极；

其中，所述GIS壳体外部设置有供所述针电极进行更换的开口，围绕所述开口位置设置朝向所述GIS壳体外部的所述法兰，所述法兰与所述法兰盖配合形成气密结构；

所述法兰盖中心设置有圆孔，所述圆孔内设置有所述轮盘，所述法兰盖、轮盘和调节杆配合形成所述气密结构；

所述调节杆底端分别通过所述通孔伸入所述气密结构中，并与所述针电极夹座的顶端连接；

所述针电极夹座的底端与所述针电极连接，所述针电极的针尖通过所述开口伸入所述GIS壳体内。

可选的，所述法兰与所述法兰盖的接触面间设置有放置密封圈的第一密封槽；

所述法兰盖与所述轮盘接触面间设置有放置密封圈的第二密封槽，所述轮盘边缘设置有与所述第二密封槽配合的凸起。

可选的，所述设置有至少两个通孔的轮盘具体为：在距离所述轮盘圆心相同位置处均匀设置至少两个通孔；

所述通孔的孔壁上均设置有放置密封圈的密封槽，所述调节杆分别穿过所述密封圈，与所述通孔密封连接。

可选的，所述针电极夹座为圆柱体，所述针电极夹座直径与所述调节杆底端直径相等，所述针电极夹座底端设置有与所述针电极配合连接的第一通孔，侧面设置有顶丝孔，所述针电极通过穿过所述顶丝孔的螺丝进行固定，所述针电极的针尖伸入到所述GIS壳体内。