[发明专利]结构检测线圈和用于制造结构检测线圈的方法在审

专利信息
申请号: 202110253611.7 申请日: 2021-03-09
公开(公告)号: CN113488306A 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 克里斯托夫·希尔德布兰特;简·阿切恩 申请(专利权)人: 舍弗勒技术股份两合公司
主分类号: H01F5/00 分类号: H01F5/00;G01N27/90
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 柳春雷
地址: 德国黑措*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 结构 检测 线圈 用于 制造 方法
【权利要求书】:

1.结构检测线圈(100),包括至少一个用于容纳绕线束的绕组模(1)以及用于形成线圈绕组的多个绕线束,其中,所述绕组模(1)构造成沿着纵轴线(L)延伸的空心体,所述空心体具有用于容纳检测体的空腔(11),并且所述绕组模(1)具有至少一个敞口的端部(12、13),

其中,所述绕组模(1)的垂直于所述纵轴线(L)延伸的横截面沿着所述纵轴线(L)变化,并且所述线圈绕组形成沿着共同的纵轴线(L)的至少一个发射线圈(5a、5b)和至少一个接收线圈(6)。

2.根据权利要求1所述的结构检测线圈(100),其中,所述绕组模(1)在增材制造工艺中制成。

3.根据前述权利要求中任一项所述的结构检测线圈(100),其中,沿着所述纵轴线(L)构造分别用于容纳绕线束的至少两个区段(14、15),所述区段沿轴向并排相邻地布置在所述绕组模(1)的外侧(16)上,并且所述区段(14、15)通过至少一个绕线腔限制部(17、17a、17b)彼此隔开。

4.根据权利要求3所述的结构检测线圈(100),其中,所述绕线腔限制部(17、17a、17b)构造成凸缘状并且垂直于所述纵轴线(L)远离地从所述绕组模(1)的整个外周延伸。

5.根据权利要求3至4中任一项所述的结构检测线圈(100),其中,所述绕线腔限制部(17、17a、17b)与所述绕组模(1)一件式地构造。

6.根据前述权利要求中任一项所述的结构检测线圈(100),其中,所述绕组模(1)在轴向端部处具有定位辅助件(18、19)。

7.根据权利要求6所述的结构检测线圈(100),其中,所述定位辅助体(18、19)与所述绕组模(1)一件式地构造。

8.根据权利要求6或7所述的结构检测线圈(100),其中,所述定位辅助件(18、19)构造成凸缘状并且垂直于所述纵轴线(L)远离地从所述绕组模(1)的整个外周延伸。

9.用于制造根据前述权利要求中任一项所述的结构检测线圈(100)的方法,所述方法具有以下的方法步骤:

-借助增材制造工艺制造所述绕组模(1);

-将绕线束形式的线圈绕组布置到所述绕组模(1)上;

-将所述绕组模(1)预定位在壳体(2)中,尤其对中地预定位在所述壳体中;

-用灌封材料(4)填充所述绕组模的外侧(16)和所述壳体(2)之间的内部空间(3)。

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