[发明专利]激光器寿命老化测试装置在审

专利信息
申请号: 202110252251.9 申请日: 2021-03-08
公开(公告)号: CN113008522A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 潘华东;郭学文;王俊;钱承 申请(专利权)人: 苏州长光华芯光电技术股份有限公司;苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01R31/00
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 薛异荣
地址: 215000 江苏省苏州市高新区昆仑山路189号*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 激光器 寿命 老化 测试 装置
【说明书】:

发明提供一种激光器寿命老化测试装置,包括:积分球结构,所述积分球结构具有入光口和出光口;激光器,所述激光器发射的激光适于传输至所述入光口;光电转换电路板,光电转换电路板适于收集所述出光口的光信号;控制电路板,所述控制电路板与所述光电转换电路板电学连接;电源体,所述电源体具有电源输出端和电源控制端,所述电源控制端与所述控制电路板电学连接,所述电源输出端与所述激光器电学连接。所述激光器寿命老化测试装置的可靠性得到提高。

技术领域

本发明涉及半导体激光器领域,具体涉及一种激光器寿命老化测试装置。

背景技术

半导体激光器是以一定的半导体材料做工作物质而产生激光的器件。半导体激光器的老化,是产品出货前必须经过的一道生产检验流程,经过筛选后的半导体激光器才能保证其质量和使用寿命。

目前市场,可供光纤耦合激光器寿命老化测试的系统少之又少,而且无法满足高功率高电流的光纤耦合激光器寿命老化及过程中的监测及保护机制不够成熟和完善。因此,迫切需要发明一种能够提供高功率高电流的光纤耦合激光器寿命老化测试系统,且能实时监测到激光器寿命老化在过程中的状态,提高激光器寿命老化测试装置的可靠性。

发明内容

因此,本发明要解决的技术问题在于克服现有技术的激光器寿命老化测试装置的可靠性较差的问题。

本发明提供一种激光器寿命老化测试装置,包括:积分球结构,所述积分球结构具有入光口和出光口;激光器,所述激光器发射的激光适于传输至所述入光口;光电转换电路板,光电转换电路板适于收集所述出光口的光信号;控制电路板,所述控制电路板与所述光电转换电路板电学连接;电源体,所述电源体具有电源输出端和电源控制端,所述电源控制端与所述控制电路板电学连接,所述电源输出端与所述激光器电学连接。

可选的,所述积分球结构包括第一积分半球结构和与第一积分半球结构固定连接的第二积分半球结构,所述第一积分半球结构中具有若干个第一半球槽,所述第二积分半球结构中具有若干个第二半球槽,第一半球槽与第二半球槽相对设置且一一对应;所述入光口位于第一半球槽背向第二半球槽的一侧;所述出光口位于所述第二半球槽背向第一半球槽的一侧;所述光电转换电路板设置在第二积分半球结构背向第一积分半球结构的一侧。

可选的,所述第一积分半球结构中还具有贯穿第一积分半球结构的第一固定槽,所述第一固定槽位于第一半球槽的侧部且与第一半球槽间隔;所述第二积分半球结构中还具有贯穿第二积分半球结构的第二固定槽,所述第二固定槽位于第二半球槽的侧部且与第二半球槽间隔,所述第二固定槽与所述第一固定槽贯通;所述激光器寿命老化测试装置还包括:位于所述第一固定槽和第二固定槽中的连接件。

可选的,所述第一积分半球结构中还具有第一冷却通道和第一连接通道,所述第一连接通道与所述第一冷却通道贯通;所述第二积分半球结构中还具有第二冷却通道和第二连接通道,所述第二连接通道与所述第二冷却通道贯通;所述第二连接通道与所述第一连接通道相互贯通。

可选的,所述积分球结构还包括:位于所述第一半球槽内壁的第一喷砂层;位于所述第二半球槽内壁的第二喷砂层。

可选的,还包括:限位板,所述限位板中具有限位口;所述光电转换电路板嵌在所述限位口中,所述限位板与所述积分球结构固定连接。

可选的,还包括:位于所述光电转换电路板和控制电路板之间的间隔柱。

可选的,还包括:冷却板;所述激光器位于所述冷却板上。

可选的,所述冷却板中设置有散热道;部分所述散热道中设置鳍片组,所述鳍片组包括若干间隔的鳍片;所述冷却板中具有激光器定位孔,所述激光器定位孔位于所述鳍片组的周围。

可选的,还包括:位于所述冷却板和所述激光器之间的散热介质层。

可选的,所述散热介质层包括导热硅脂层或石墨片。

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