[发明专利]一种设计约束检查方法及装置

权利要求书

1.一种设计约束检查方法，其特征在于，包括：

在芯片设计完成后，获取所述芯片的约束数据库，所述约束数据库包括每个设计约束的约束信息和约束条件；

根据每个设计约束的约束信息和约束条件，生成该设计约束的约束检查函数；

在所述芯片需要进行检查时，调用每个约束检查函数对所述芯片进行检查，以检查所述芯片是否满足所述芯片对应的设计约束。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，按照下述方法确认所述芯片需要进行检查：

若所述芯片启动完成或所述芯片的配置发生变更时，确认所述芯片需要进行约束检查。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据每个设计约束的约束条件，生成该设计约束的约束检查函数之后，还包括：

生成约束检查函数的入口地址；

所述调用每个约束检查函数对所述芯片进行检查，包括：

根据所述入口地址，调用每个约束检查函数对所述芯片进行检查。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每个设计约束的约束信息包括寄存器的元素，该设计约束的约束条件包括寄存器的元素之间的约束关系；

则，调用每个约束检查函数对所述芯片进行检查，以检查所述芯片是否满足所述芯片对应的设计约束，包括：

针对每个设计约束，按照该设计约束的约束信息从所述芯片中获取对应的元素；

调用该设计约束的约束检查函数判断获取的元素之间的关系是否满足该设计约束的约束条件。

5.根据权利要求1～4任一所述的方法，其特征在于，调用每个约束检查函数对所述芯片进行检查，以检查所述芯片是否满足所述芯片对应的设计约束，包括：

若基于各个约束检查函数均确认所述芯片满足所述芯片对应的设计约束，则确认对所述芯片的设计约束检查合格。

6.一种设计约束检查装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于在芯片设计完成后，获取所述芯片的约束数据库，所述约束数据库包括每个设计约束的约束信息和约束条件；

函数生成模块，用于根据每个设计约束的约束信息和约束条件，生成该设计约束的约束检查函数；

芯片检查模块，用于在所述芯片需要进行检查时，调用每个约束检查函数对所述芯片进行检查，以检查所述芯片是否满足所述芯片对应的设计约束。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述芯片检查模块，具体用于按照下述方法确认所述芯片需要进行检查：若所述芯片启动完成或所述芯片的配置发生变更时，确认所述芯片需要进行约束检查。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

地址生成模块，用于在所述函数生成模块根据每个设计约束的约束条件，生成该设计约束的约束检查函数之后，生成约束检查函数的入口地址；

所述芯片检查模块，具体用于根据所述入口地址，调用每个约束检查函数对所述芯片进行检查。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，每个设计约束的约束信息包括寄存器的元素，该设计约束的约束条件包括寄存器的元素之间的约束关系；

所述芯片检查模块，具体用于针对每个设计约束，按照该设计约束的约束信息从所述芯片中获取对应的元素；调用该设计约束的约束检查函数判断获取的元素之间的关系是否满足该设计约束的约束条件。

10.根据权利要求6～9任一所述的装置，其特征在于，

所述芯片检查模块，具体用于若基于各个约束检查函数均确认所述芯片满足所述芯片对应的设计约束，则确认对所述芯片的设计约束检查合格。