[发明专利]取像装置及其应用的作业设备在审
| 申请号: | 202110206322.1 | 申请日: | 2021-02-24 |
| 公开(公告)号: | CN114967035A | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
| 发明(设计)人: | 张原龙 | 申请(专利权)人: | 鸿劲精密股份有限公司 |
| 主分类号: | G02B7/18 | 分类号: | G02B7/18;G02B7/182;G03B13/32 |
| 代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 李林 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 装置 及其 应用 作业 设备 | ||
本发明提供一种取像装置,包含驱动机构、调焦机构及取像机构,驱动机构设有具第一传动部件的移动具,并以移动具沿驱动轴线位移,调焦机构设有具第二传动部件的承载具,第二传动部件供移动具的第一传动部件驱动,使承载具位移作动,取像机构的至少一取像器装配于承载具,并由承载具带动位移至不同取像高度,以供调整取像器对不同物件的取像焦距而获得清晰影像资料,进而提高取像品质。
技术领域
本发明涉及一种可调整取像器的取像焦距,以提高取像品质的取像装置。
背景技术
在现今,电子元件日趋微小精密,如何使电子元件的接点与测试座的探针精准对位,着实相当重要;目前测试作业设备于机台设有具探针的测试座,并以压接器将电子元件移载至测试座的上方,一配置于测试座侧方的取像装置,利用移动平台带动取像器于固定取像作业高度作水平位移至电子元件与测试座之间,使取像器取像电子元件及测试座,以由取像资料判别电子元件的接点与测试座的探针是否相互对位,而供调整电子元件的摆置位置;然而,不同型式的电子元件,其应用的测试座型式、高度也不同,但取像装置的移动平台仅能带动取像器作水平位移,且于固定取像作业高度取像测试座,导致取像器的取像焦距无法因应不同高度的测试座而改变,易发生影像失焦模糊的情形,不仅影响取像器的取像品质,更加无法判断电子元件的接点与测试座的探针是否精准对位,进而影响测试品质。
发明内容
本发明的目的在于:提供一种取像装置及其应用的作业设备,解决现有技术中存在的上述技术问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
一种取像装置,其特征在于,包含:
驱动机构:设置至少一能够位移作动的移动具,该移动具设有第一传动部件;
调焦机构:设置至少一承载具,该承载具设有第二传动部件,该第二传动部件以供该驱动机构的该第一传动部件驱动位移,使该承载具位移作动;
取像机构:于该承载具装配至少一取像器,以供取像物件,该取像器以供该承载具带动位移而调整取像焦距。
所述的取像装置,其中,该驱动机构以驱动源驱动该移动具位移。
所述的取像装置,其中,该驱动机构于该移动具设有至少一第一滑轨组。
所述的取像装置,其中,该调焦机构的该承载具一方设有固定架,该固定架与该承载具之间设有第二滑轨组。
所述的取像装置,其中,该取像机构的该取像器搭配至少一取像部,以供取像该物件。
所述的取像装置,其中,该取像机构的该取像器搭配复数个取像部,以供取像复数个物件。
所述的取像装置,其中,该复数个取像部包含第一取像部及第二取像部,以供取像该复数个物件。
所述的取像装置,其中,该取像部为菱镜或全反射镜。
所述的取像装置,其中,该移动具与该承载具平行配置。
所述的取像装置,其中,该移动具为块体、楔形块或凸轮。
所述的取像装置,其中,该移动具的该第一传动部件为斜向导槽、楔形面、凸轮面或滚轮,该第二传动部件为滚轮或斜向导槽。
所述的取像装置,其中,还包含移动平台,该移动平台供作复数个方向位移,并装配该驱动机构。
一种作业设备,其特征在于,包含:
机台;
供料装置:配置于该机台,并设有至少一供料容置器,以供容置至少一待作业电子元件;
收料装置:配置于该机台,并设有至少一收料容置器,以供容置至少一已作业电子元件;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿劲精密股份有限公司,未经鸿劲精密股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110206322.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件的金属布线
- 下一篇:载具机构及其应用的作业设备





