[发明专利]一种在同轴光源照明条件下基于亚像素的PCB线宽检测方法在审
| 申请号: | 202110186365.8 | 申请日: | 2021-02-18 |
| 公开(公告)号: | CN112985268A | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
| 发明(设计)人: | 洪润莉;陈佳欣;黄杰贤;宋富伟;廖庆霞;张真汶;古庆宏;徐铭 | 申请(专利权)人: | 广东省梅州市质量计量监督检测所 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G06T7/00 |
| 代理公司: | 广州海心联合专利代理事务所(普通合伙) 44295 | 代理人: | 罗振国 |
| 地址: | 514000 广东省梅州市梅*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 同轴 光源 照明 条件下 基于 像素 pcb 检测 方法 | ||
1.一种同轴光源照明条件下基于亚像素的PCB线宽检测方法,其特征在于:依次包含以下步骤:
S1、打开同轴光源,使同轴光源的平行光垂直照射在基材上的线路表面;由成像单元对照明后的基材上的线路进行拍摄,并将成像单元获取的图像转换为灰度图像;
S2、将S1出的灰度图像进行分析,获取基材上的线路其中一边缘的灰度梯度值;
S3、从S2的灰度梯度值中获取同一Y轴坐标下的多个X轴坐标的坐标值,并获取相应X轴坐标值上的灰度梯度值;
S4、将S3中获取的多个X轴坐标值与灰度梯度值进行最小二乘曲线拟合,得到拟合后曲线的灰度梯度值的最大值坐标,与灰度梯度值的最大值坐标相对应的X轴坐标值X1即为基材上的线路其中一边缘的X轴坐标值;
S5、重复S2-S4的步骤得出基材上的线路另一边缘的X轴坐标值X2;
S6、坐标值x1与坐标值X2差值的绝对值即为基材上线路的线宽数值。
2.根据权利要求1所述的一种同轴光源照明条件下基于亚像素的PCB线宽检测方法,其特征在于:在所述步骤S4获取的X轴坐标值与灰度值中,基材上的线路两边缘的Y轴坐标值相同。
3.根据权利要求1所述的一种同轴光源照明条件下基于亚像素的PCB线宽检测方法,其特征在于:所述步骤S3中获取的X轴坐标值与灰度值为四组,步骤S4通过二次多项式对四组X轴坐标值与灰度值的分布特征进行拟合。
4.根据权利要求1所述的一种同轴光源照明条件下基于亚像素的PCB线宽检测方法,其特征在于:所述X轴坐标值与Y轴坐标值的单位为像素,在步骤S6中将坐标值x1与坐标值X2之间的差值乘每个像素代表的距离尺寸值即可得出基材上线路的实际线宽数值。
5.根据权利要求1所述的一种同轴光源照明条件下基于亚像素的PCB线宽检测方法,其特征在于:所述成像单元为相机。
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