[发明专利]基于电磁计算的全息穿透成像雷达杂波抑制方法

权利要求书

1.一种基于电磁计算的全息穿透成像雷达杂波抑制方法，对位于非平整表面介质内部的目标进行成像时的杂波抑制，其特征在于，包括以下步骤：根据全息穿透成像雷达的发射信号，以及测得的介质非平整表面起伏、介质介电常数，利用电磁计算方法计算出表面杂波；通过自适应幅相校准处理先对表面杂波进行预处理，再进行对消处理，得到表面杂波抑制后的回波数据。

2.根据权利要求1所述的基于电磁计算的全息穿透成像雷达杂波抑制方法，其特征在于，介质非平整表面起伏是指介质表面的高程差。

3.根据权利要求2所述的基于电磁计算的全息穿透成像雷达杂波抑制方法，其特征在于，自适应幅相校准处理包括幅度校准与相位校准；

首先进行幅度校准，依据下式计算幅度校准比例系数k：

其中，S(x,y)为利用全息穿透成像雷达得到的二维扫描区域中坐标为(x,y)的回波数据；C_s(x,y)为利用电磁计算方法计算出的二维扫描区域中坐标为(x,y)表面杂波；N表示二维扫描区域中x所在方向的扫描点数，M表示二维扫描区域中y所在方向的扫描点数；

利用下式计算幅度校准后的表面杂波C′_s(x,y)为：

接着进行相位校准，采用以下准则估计时延误差t₀，计算准则为：

其中，F为代价函数，t表示时延；当代价函数F在0≤t≤1范围内取最小值时，此时t的取值即为时延误差t₀的值；

利用下式计算相位校准后的表面杂波C″_s(x,y)为：

4.一种全息穿透成像雷达的成像方法，对位于非平整表面介质内部的目标进行成像，其特征在于，首先对雷达回波数据采用权利要求1至3所述的技术方案之一进行杂波抑制，然后利用杂波抑制后的数据进行成像。

5.一种对位于非平整表面介质内部的目标进行检测的方法，其特征在于，利用全息穿透雷达对非平整表面介质进行成像；成像时，首先对雷达回波数据采用权利要求1至3所述的技术方案之一进行杂波抑制，然后利用杂波抑制后的数据进行成像；利用成像结果得到目标检测结果。

6.一种全息穿透成像雷达的成像系统，包括对雷达回波数据进行杂波抑制的模块，所述模块的功能是对雷达回波数据采用权利要求1至3所述的技术方案之一进行杂波抑制。