[发明专利]基于压缩感知的SAR层析快速成像方法在审

专利信息
申请号: 202110165411.6 申请日: 2021-02-06
公开(公告)号: CN112986992A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 余安喜;朱小祥;董臻;张永胜;吴曼青;何峰;何志华;李德鑫;金光虎;孙造宇;王先涛;沈蒙蒙 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 国防科技大学专利服务中心 43202 代理人: 王文惠
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 基于 压缩 感知 sar 层析 快速 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种基于压缩感知的SAR层析快速成像方法,其特征在于,对同一场景的SAR图像序列,采用波束形成法进行高度向成像,得到目标位置,在每个目标位置附近采用基于CS的SAR层析成像方法进行成像;其中,SAR是指合成孔径雷达,CS是指压缩感知。

2.根据权利要求1所述的基于压缩感知的SAR层析快速成像方法,其特征在于,利用波束成形法进行高度向成像时,获得各像元内散射元的高度向位置。

3.根据权利要求2所述的基于压缩感知的SAR层析快速成像方法,其特征在于,进行高度向成像,得到目标位置时采用下述过程:

Step1,采用波束形成法进行高度向成像:

对同一场景的SAR图像序列g=[g1,g2,…,gN],N表示SAR图像序列数,采用波束成形法逐像元进行高度向成像,获得后向散射系数;各像元内的目标个数为后向散射系数大于设定阈值的最大峰值点个数,目标位置为各峰值点对应的高度向位置。

Step2:高度向搜索空间优化:

假设Step1中检测的某目标的高度向估计值为利用下式计算高度向搜索空间sslim

其中Δs为高度向采样间隔;

则测量矩阵Aslim为:

Aslim=exp(j2πεsslim)

其中,ε表示空间基线频率向量。

4.根据权利要求3所述的基于压缩感知的SAR层析快速成像方法,其特征在于,利用下式计算重构后的目标后向散射系数

其中,γ表示待重构后向散射系数;λ表示正则化参数。

5.根据权利要求4所述的基于压缩感知的SAR层析快速成像方法,其特征在于,利用下述过程计算目标后向散射系数的对应的目标个数

其中,K取值为0、1或2,表示重构误差,N表示SAR图像序列数。

6.一种基于压缩感知的SAR层析快速成像装置,其特征在于,采用权利要求1至5所述的任意一个技术方案进行SAR层析快速成像。

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