[发明专利]触控面板和显示装置有效

专利信息
申请号: 202110152146.8 申请日: 2021-02-03
公开(公告)号: CN112947784B 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 方亮;丁玎 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 何志军
地址: 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 面板 显示装置
【说明书】:

本申请公开了触控面板和显示装置,触控面板和显示装置包括显示区,所述触控面板包括:多个触控块,每一列触控块的一侧设有对应的盲区,多个触控块和多个盲区均位于所述显示区中;测试电路,测试电路包括测试线,测试线位于对应的所述盲区中;该方案可以避免测试线横跨触控块,以避免部分触控块与其他触控块的结构存在差异,提高了触控面板和显示装置的触控性能。

技术领域

本申请涉及显示技术领域,尤其涉及显示面板制造技术领域,具体涉及触控面板和显示装置。

背景技术

在屏下摄像头技术中,通常采用激光切割形成通孔以放置摄像头,其中激光切割容易产生裂纹导致断路,因此检测电路尤为重要。

其中,由于互容式触控面板包括和触控电极异层设置的桥接层,检测电路可以和桥接层同层设置以避免横跨触控电极;然而,自容式触控面板中大量的触控块均同层设置,检测电路和大量的触控块同层设置会横跨部分触控块,造成部分触控块与其他触控块的结构存在差异,导致触控面板的触控性能下降。

发明内容

本申请实施例提供触控面板和显示装置,以解决现有的检测电路和大量的触控块同层设置而横跨部分触控块,造成部分触控块与其他触控块的结构存在差异,导致触控面板的触控性能下降的问题。

本申请实施例提供触控面板,所述触控面板包括显示区,所述触控面板包括:

多个触控块,每一列所述触控块的一侧设有对应的盲区,多个所述触控块和多个所述盲区均位于所述显示区中;

测试电路,所述测试电路包括测试线,所述测试线位于对应的所述盲区中。

在一实施例中,还包括:

盲线,所述盲线位于所述盲区中,且所述盲线被多个间隙分割;

其中,所述测试线通过所述间隙形成连贯的路径。

在一实施例中,还包括非显示区,所述非显示区围绕所述显示区;

其中,所述测试线从对应的所述盲区延伸至所述非显示区。

在一实施例中,还包括绑定区,所述绑定区位于所述非显示区的一侧;

其中,所述测试电路还包括测试块,所述测试块位于所述绑定区,所述测试线经过对应的所述盲区和所述非显示区连接于所述测试块。

在一实施例中,所述挖孔区位于所述显示区中,所述挖孔区至少包括位于对应的所述盲区的部分;

其中,所述测试电路还包括连接线,所述连接线位于所述挖孔区,所述连接线连接所述测试线。

在一实施例中,多个所述触控块和所述测试线同层设置。

在一实施例中,多条触控线,每一所述触控线连接对应的所述触控块,且每一所述触控线经由对应的所述触控块延伸至对应的所述盲区中。

在一实施例中,还包括:

多个像素电极;

其中,每一所述触控块呈网格状,所述触控块中的网格与对应的所述像素电极相对设置。

在一实施例中,每一所述触控线呈网格状,所述触控线中的网格也与对应的所述像素电极相对设置。本申请实施例提供显示装置,所述显示装置包括如上文任一所述的触控面板。

本申请实施例提供的触控面板和显示装置,所述触控面板包括多个触控块和测试电路,每一列所述触控块的一侧设有对应的盲区,多个所述触控块和多个所述盲区均位于所述显示区中,所述测试电路包括测试线,通过将所述测试线设于对应的所述盲区中,以避免所述测试线横跨所述触控块,进一步避免部分所述触控块与其他所述触控块的结构存在差异,以此提高了所述触控面板和所述显示装置的触控性能。

附图说明

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