[发明专利]一种绝缘子表面污秽可溶盐成分分析装置

说明书

本发明公开了一种绝缘子表面污秽可溶盐成分分析装置，包括装置外壳，所述装置外壳的后侧设置有搅拌开关，且装置外壳的内部设置有电池，所述电池的下端连接有搅拌电机，且搅拌电机的前端设置有测量探头，所述测量探头的内部设置有进水口，且进水口的两侧设置有电极，所述电极的内部设置有绝缘搅拌探头，且绝缘搅拌探头的前端设置有搅拌棒。本发明的有益效果在于，该绝缘子表面污秽可溶盐成分分析装置，结构设置合理，可基于其测量结果采用基于表面电导率的绝缘子自然污秽的试验盐密修正方法，更为精确地描述绝缘子表面污秽的轻重程度并指导输变电设备外绝缘设计，运行与维护。

技术领域

本发明涉及绝缘子污秽技术领域，具体为一种绝缘子表面污秽可溶盐成分分析装置。

背景技术

绝缘子表面由于各种原因产生的积污会导致其外绝缘强度降低，发生污秽闪络，影响输配电安全，为保障线路的安全运行，应当建立合适的绝缘子污秽评估方法并采用相应的装置进行测量，绝缘子串的污闪电压主要取决于饱和受潮后的污层表面电导率，表面电导率越大，绝缘子的污闪电压越低，表面电导率不仅和污层附水量有关，也与可溶盐在饱和受潮条件下的溶解量有关，自然污染绝缘子的可溶盐成分种类多样，不同可溶盐之间的比例差异很大，利用“等值盐密”描述自然积污绝缘子的污秽度，其中“等值”意思就是将污秽中的各种可溶盐的量“等值”为氯化钠的量，而在人工污秽试验中，一般利用氯化钠模拟污秽中的可溶盐，因而氯化钠污秽的等值盐密也被称为试验盐密(SDD)，自然积污的绝缘子表面污秽含有一定比例的易溶盐，如NaCL，也可能含有一定比例的微溶盐，如CaSO₄，NaCL的溶解度很高，20℃下10mL去离子水可以溶解35.6g NaCL，自然积污的绝缘子的等值盐密很少超过0.5mg/cm2，因此，在等值盐密测量时污秽中的氯化钠可以完全溶解于测量溶液中，测量用水量的多少对氯化钠的溶解量几乎没有影响，然而对污秽中的CaSO₄，由于20℃下100mL的去离子水中最多能够溶解205mg CaSO₄，因此，若测量等值盐密的用水量为0.2mL/cm²，当绝缘子表面的CaSO₄质量大于0.41mg/cm²时，在等值盐密测量过程中，污秽中的CaSO₄仅能部分溶解，要实现绝缘子表面污秽可溶盐成分的分析，需要同时实现对绝缘子表面某一区域的局部等值盐密和局部表面电导率的依次测量，目前尚无相关装置可对上述参数进行直接测量，为此我们提出了一种绝缘子表面污秽可溶盐成分分析装置，用来解决上述问题。

发明内容

1.需要解决的技术问题

本发明的目的在于，提供一种绝缘子表面污秽可溶盐成分分析装置，以解决上述背景技术中提出的现有技术中尚无对绝缘子表面污秽可溶盐成分分析的装置的问题。

2.技术方案

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种绝缘子表面污秽可溶盐成分分析装置，包括装置外壳，所述装置外壳的后侧设置有搅拌开关，且装置外壳的内部设置有电池，所述电池的下端连接有搅拌电机，且搅拌电机的前端设置有测量探头，所述测量探头的内部设置有进水口，且进水口的两侧设置有电极，所述电极的内部设置有绝缘搅拌探头，且绝缘搅拌探头的前端设置有搅拌棒。

上述的可溶盐成分分析装置，其中，所述测量探头设置为圆柱体结构，且圆柱体的内侧设置有探头内壁，并且电极不超过探头内壁的长度。

上述的可溶盐成分分析装置，其中，所述电极设置为两个对置的圆柱体结构的端头，且两个圆柱端头的末端安装有弹簧，并且电极底端与弹簧固定连接。

上述的可溶盐成分分析装置，其中，所述进水口设置为关于测量探头中心对置的两个，且进水口与测量探头内腔联通，并且进水口的前端与探头内壁的前端齐平。

上述的可溶盐成分分析装置，其中，所述绝缘搅拌探头由搅拌电机驱动，且电池设置为1.5V供电电压，并且设置绝缘搅拌探头的的转速为20转每分钟。