[发明专利]一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵在审
申请号: | 202110136314.4 | 申请日: | 2021-02-01 |
公开(公告)号: | CN112764287A | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 时尧成;李文磊;陈敬业 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G02F1/29 | 分类号: | G02F1/29;G02B6/124;G02B6/122 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 朱月芬 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 平板 光栅 天线 排布 二维 扫描 光学 相控阵 | ||
1.一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,包括依次连接的激光器光源(1)、分光网络(2)、相位调制器阵列(3)、锥形波导(4)、非均匀宽度波导阵列(5)和平板光栅天线(6);
所述的激光器光源(1)产生的信号光通过所述的分光网络(2)后,光功率被平均分为多路;然后功率等分后的光束被输入到所述的相位调制器阵列(3)中,通过外加电压的方式对每路光信号进行独立的相位调制;经过相位调制的光信号再经锥形波导(4)被输入到非均匀宽度波导阵列(5);最后所有路径中的光信号被输入到所述的平板光栅天线(6)中进行出射;通过调制信号光波长以及相邻波导阵元间相位差的方式,进行出射光束在自由空间的二维扫描。
2.根据权利要求1所述的一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,所述的激光器光源(1)为可调谐激光器,并且具有片上集成的特点,通过改变信号光波长,实现光束的纵向扫描。
3.根据权利要求1所述的一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,所述的分光网络(2)由N级级联的3dB分光器构成,能够将输入的信号光平均分为2N路,其中3dB分光器的结构是多模干涉耦合器或者Y分支。
4.根据权利要求1所述的一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,所述的相位调制器阵列(3)通过热光效应或者电光效应来实现,利用外加电压改变波导的折射率从而调制波导内光信号的相位,实现光束的横向扫描。
5.根据权利要求1所述的一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,所述的非均匀宽度波导阵列(5),其相邻波导阵元间隔不大于最小工作波长的一半。
6.根据权利要求5所述的一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,所述的非均匀宽度波导阵列(5),选择的波导宽度满足单模条件,并且为了确保相同宽度的波导在阵列中具有较大的间隔,需要至少三种不同宽度的波导进行周期性排列。
7.根据权利要求1所述的一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,所述的平板光栅天线(6)是一维齿状光栅或者二维孔状光栅。
8.根据权利要求7所述的一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,所述的平板光栅天线(6)整体形状呈梯形,并且其两侧壁的张角大于信号光在平板光栅天线(6)区域的最大面内偏转角。
9.根据权利要求1所述的一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,光束横向的偏转角度与相邻阵元间的相位差满足:
式(1)中Φ为光束的横向偏转角度,Φin为光束在平板光栅天线区域的面内偏转角度,Neff为平板光栅天线的有效折射率,为相邻阵元间的相位差,λ为工作波长,d为阵元间距;为了使得横向扫描范围达到180°,阵元间距d应小于λ/2。
10.根据权利要求8所述的一种基于平板光栅天线的半波排布二维扫描光学相控阵,其特征在于,平板光栅天线内部的光束经过光栅耦合到自由空间,其纵向偏转角度与信号光波长的关系如下:
式(2)中,θ为出射光束的纵向偏转角度,Neff为平板光栅天线的有效折射率,λ为信号光波长,Λ为平板光栅的周期。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学,未经浙江大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110136314.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。