[发明专利]一种基于检测模块的控制线校验方法、系统及介质

说明书

本发明公开了一种基于检测模块的控制线校验方法，包括以下步骤：获取检测信号，识别所述检测信号的第一物理地址；根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测，得到检测结果；构建校验文件，根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；根据所述质量标准执行重复判断步骤；本发明能够根据检测信号对不同类型的控制线引脚的电平状态进行检测，并进行统一比对，进而实现在对不同类型的控制线测试时不需要重新开发测试治具，极大的节省了前置控制线的检测成本，并提升了检测效率及准确度。

技术领域

本发明涉及服务器产品测试技术领域，特别是涉及一种基于检测模块的控制线校验方法、系统及介质。

背景技术

服务器和PC产品一般都通过前置线进行连接；在配置好服务器和PC产品后，会对其连接介质前置线进行电性检测。现有的检测方法一般通过测试回路，但由于不同的产品其构造设计不同，所以测试回路也需要重新开发设计，这种检测方法成本极高且检测效率相对较低。

发明内容

本发明主要解决的是现有的前置线检测方法成本极高以及检测效率相对较低的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种基于检测模块的控制线校验方法，所述控制线上设有第一接口，所述第一接口上设有第一引脚，所述检测模块上设有矩阵开关，所述矩阵开关上设有若干第二接口，所述第二接口与所述第一引脚连接，所述方法包括以下步骤：

获取检测信号，识别所述检测信号的第一物理地址；

根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测，得到检测结果；

构建校验文件，根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；

根据所述质量标准执行重复判断步骤。

进一步，所述根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测的步骤进一步包括：获取所述第一引脚的若干第二物理地址；在若干所述第二物理地址中定义与所述第一物理地址对应的所述第二物理地址为第三物理地址；检测所述第三物理地址所对应第一引脚的第一电平状态；汇总所述第一电平状态，得到所述检测结果。

进一步，所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准的步骤进一步包括：

比对所述检测结果和所述校验文件是否匹配；若匹配，则判断所述质量标准为第一标准；若非匹配，则判断所述质量标准为第二标准。

进一步，所述根据所述质量标准执行重复判断步骤的步骤进一步包括：当所述质量标准为所述第二标准时，执行所述重复判断步骤。

进一步，所述汇总所述第一电平状态的步骤进一步包括：标记所述第一电平状态所对应的所述第一引脚；判断所述控制线上是否存在未被标记的所述第一引脚；若是，则继续获取所述检测信号；若否，则汇总所述第一电平状态。

进一步，所述构建校验文件的步骤进一步包括：识别所述控制线的类型；根据所述类型获取所述第一引脚的第二电平状态并在所述第一引脚中选取冗余引脚；汇总所述第二电平状态，得到所述校验文件。

进一步，所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准的步骤进一步还包括：

按照所述第二物理地址依次比对所述第一电平状态和所述第二电平状态；判断所述第一电平状态是否均与其对应的所述第二电平状态匹配；若是，则判断所述检测结果与所述校验文件匹配；若否，则判断所述检测结果与所述校验文件非匹配，并定义与其对应的所述第二电平状态不匹配的第一电平状态为第三电平状态，定义所述第三电平状态对应的所述第一引脚为故障引脚。

进一步，所述重复判断步骤包括：判断所述故障引脚是否均为所述冗余引脚，若是，则判断所述质量标准为所述第一标准，若否，则判断所述质量标准为第三标准。